1.

国際会議録

国際会議録
L. Chen ; L. Nie ; T. Zhou ; D. Sha
出版情報: 27th International Congress on High-Speed Photography and Photonics : 17-22 September 2006, Alexandria, Xian, China.  pp.627974-1-627974-7,  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6279
2.

国際会議録

国際会議録
L. Chen ; L. Nie ; T. Zhou ; D. Sha
出版情報: Sixth International Symposium on Instrumentation and Control Technology: Signal Analysis, Measurement Theory, Photo -Electronic Technology, and Artificial Intelligence : 13-15 October 2006, Beijing, China.  pp.63574J-1-63574J-7,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6357
3.

国際会議録

国際会議録
L. Chen ; D. Sha
出版情報: Optical Design and Testing III.  2  pp.68342N-1-68342N-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6834
4.

国際会議録

国際会議録
S. Wu ; T. Zhou ; D. Sha ; J. Lin ; L. Chen
出版情報: Optical Design and Testing III.  2  pp.683435-1-683435-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6834
5.

国際会議録

国際会議録
S. Wu ; D. Sha ; J. Lin ; T. Zhou ; L. Chen
出版情報: Optical test and measurement technology and equipment.  1  pp.67230P-1-67230P-6,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6723
6.

国際会議録

国際会議録
L. Chen ; D. Sha
出版情報: Optoelectronic measurement technology and applications : 2008 International Conference on Optical Instruments and Technology : 16-19 November 2008, Beijing, China.  pp.71602G-1-71602G-10,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7160