1.

国際会議録

国際会議録
X. Gao ; D. Li ; N. Deng ; J. Ou
出版情報: Fundamental Problems of Optoelectronics and Microelectronics III.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6595
2.

国際会議録

国際会議録
D. Li ; Z. Zhou ; N. Deng ; J. Ou
出版情報: Fundamental Problems of Optoelectronics and Microelectronics III.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6595
3.

国際会議録

国際会議録
D. Li ; J. Ou
出版情報: Fundamental Problems of Optoelectronics and Microelectronics III.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6595
4.

国際会議録

国際会議録
D. Li ; J. Ou
出版情報: Nondestructive characterization for composite materials, aerospace engineering, civil infrastructure, and homeland security 2008 : 11-13 March 2008, San Diego, California, USA.  pp.69340J-1-69340J-5,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6934