1.

国際会議録
国際会議録
1. Frequency-domain multiplexing for large-scale bolometer arrays (Invited Paper)
Lanting, T.M. ; Cho, H.-M. ; Clarke, J. ; Dobbs, M. ; Lee, A.T. ; Richards, P.L. ; Spieler, H. ; Smith, A.
出版情報: Millimeter and submillimeter detectors for astronomy : 25-28 August 2002, Waikoloa, Hawaii, USA.  pp.172-181,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4855
2.

国際会議録
国際会議録
2. Superconducting quantum interference device detection of magnetically tagged micro-organisms
Grossman, H.L. ; Lee, S. ; Myers, W. ; Chemla, Y.R. ; Pooh, Y. ; Cho, H.M. ; McDermott, R. ; Stevens, R. ; Alper, M.D. ; Clarke, J.
出版情報: Advanced environmental sensing technology II : 31 October-1 November, 2001, Newton, [Massachusetts] USA.  pp.122-125,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4576
3.

国際会議録
国際会議録
3. X-ray Probes of Magnetic Multilayer Structure
Tanner, B.K. ; Hase, T.P.A. ; Fulthorpe, B.D. ; Clarke, J. ; Luo, G.M. ; Halder, S.K. ; Rozatian, A.S.H. ; Wilkins, S.B.
出版情報: Magnetic materials, structures and processing for information storage: symposium held April 24-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.F4.1/G2.1-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 614
4.

国際会議録
国際会議録
4. X-ray Probes of Magnetic Multilayer Structure
Tanner, B.K. ; Hase, T.P.A. ; Fulthorpe, B.D. ; Clarke, J. ; Luo, G.M. ; Halder, S.K. ; Rozatian, A.S.H. ; Wilkins, S.B.
出版情報: Polycrystalline metal and magnetic thin films-2000 : symposium held April 25-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.G2.1/F4.1-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 615
5.

国際会議録
国際会議録
5. COMPARISON OF HC1 GAS-PHASE CLEANING WITH CONVENTIONAL AND DILUTE WET CHEMISTRIES
Elsmore, C. ; Hurd, T.Q. ; Clarke, J. ; Meuris, M. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.142-149,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-20