1.

国際会議録
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1. Meeting critical gate Iinewidth control needs at the 65 nm node [6156-23]
Mahorowala, A. ; Halle, S. ; Gabor, A. ; Chu, W. ; Barberet, A. ; Samuels, D. ; Abdo, A. ; Tsou, L. ; Yan, W. ; Iseda, S. ; Patel K ; Dirahoui, B ; Nomura, A ; Ahsan, I ; Azam, F ; Berg, G ; Brendler, A ; Zimmerman, J ; Faure, T
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing IV : 23-24 February, 2006, San Jose, California, USA.  pp.61560M-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6156
2.

国際会議録
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2. Electrochromism by Polarisation of Ionic and Mixed Conducting Solids
Chu, W. ; Foteinopoulon, A. ; Klingler, M. ; Siramare, S. ; Thoma, K. ; Weppner, W.
出版情報: Solid-State Ionic Devices II, ceramic sensors : proceedings of the International Symposium.  pp.42-52,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-32
3.

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3. Sensing of Multicomponent Gases by Advanced Potentiometric and Kinetic Principles
Tsagarakis, E. ; Chu, W. ; Meizing, L. ; Weppner, W.
出版情報: Solid-State Ionic Devices II, ceramic sensors : proceedings of the International Symposium.  pp.270-284,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-32
4.

国際会議録
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4. IN-SITU AND EX-SITU RAMAN SPECTROSCOPIC CHARACTERIZATION OF LI+INTERCALATION PROCESSES AND STRUCTURAL CHNAGES OF SPINEL MATERIALS
Chu, W. ; Zhang, Z.R. ; Liu, Z.T. ; Yang, Y. ; Lin, Z.
出版情報: Micro power sources : proceedings of the international symposium.  pp.31-40,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-3
5.

国際会議録
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5. Reactivity of Pt/Al2O3 and Pt/CeO2/Al2O3 catalysts for partial oxidation of methane to syngas
Yan, Q.-G. ; Gao, L.-Z. ; Chu, W. ; Yu, Z.-L. ; Yuan, S.-Y.
出版情報: Natural gas conversion V : proceedings of the 5th International Natural Gas Conversion Symposium, Giardini Naxos-Taormina, Italy, September 20-25, 1998.  pp.855-,  1998.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 119
6.

国際会議録
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6. Rare earth promoted nickel catalysts for the selective oxidation of natural gas to syngas
Chu, W. ; Yan, Q. ; Li, Q. ; Liu, X. ; Yu, Z. ; Xiong, G.
出版情報: Natural gas conversion V : proceedings of the 5th International Natural Gas Conversion Symposium, Giardini Naxos-Taormina, Italy, September 20-25, 1998.  pp.849-,  1998.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 119
7.

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7. Improvements of ceria promoted nickel catalysts for natural gas oxidation to syngas
Chu, W. ; Yan, Q. ; Liu, S. ; Xiong, G.
出版情報: 12th International Congress on Catalysis : proceedings of the 12th ICC, Granada, Spain, July 9-14, 2000.  pp.3573-,  2000.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 130
8.

国際会議録
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8. Sustainable Ni catalyst for partial oxidation of CH4 to syngas at high temperature
Liu, S. ; Xiong, G. ; Dong, H. ; Yang, W. ; Sheng, S. ; Chu, W. ; Yu, Z.
出版情報: 12th International Congress on Catalysis : proceedings of the 12th ICC, Granada, Spain, July 9-14, 2000.  pp.3567-,  2000.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 130
9.

国際会議録
国際会議録
9. MASK TECHNOLOGY FOR X-RAY NANOLITHOGRAPHY
Schattenburg, M. L. ; Carter, J. ; Chu, W. ; Fleming, R. C. ; Ghanbari, R. A. ; Mondol, M. ; Polce, N. ; Smith, Henry I.
出版情報: Materials aspects of x-ray lithography : symposium held April 12-14, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.63-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 306
10.

国際会議録
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10. MATERIALS ISSUES IN X-RAY LITHOGRAPHY
Dobisz, E. A. ; Peckerar, M. C. ; Chu, W. ; Rhee, K. ; Shirey, L. S. ; Marrian, C. R. K. ; Salvino, R. E. ; Foster, K. ; Kosokowski, J.
出版情報: Materials aspects of x-ray lithography : symposium held April 12-14, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.3-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 306
11.

国際会議録
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11. Hydrogenolysis of Methyl Formate to Methanol on Copper-Based Catalysts and TPR Characterization
Long, Y. ; Chu, W. ; Ye, Y. -H. ; Zhang, X. -W. ; Dai, X. -Y.
出版情報: Natural gas conversion VII : proceedings of the 7th Natural Gas Conversion Symposium, June 6-10, 2004, Dalian, China.  pp.613-618,  2004.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 147
12.

国際会議録
国際会議録
12. Improvement of thermal stability of Ti-Zr mesoporous oxides using CTAB surfactant templates mixed with auxiliary organic additives
Li, W. ; Yang, X. ; Zhang, Y. ; Chu, W.
出版情報: Nanotechnology in mesostructured materials : proceedings of the 3rd International Mesostructured Materials Symposium, Jeju, Korea, July 8-11, 2002.  pp.231-234,  2003.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 146
13.

国際会議録
国際会議録
13. Silicon Nanotechnology for Biofiltration and Immunoisolated Cell Xenografts
Ferrari, M. ; Chu, W. ; Desai, T. ; Hansford, D. ; Mazzoni, G. ; Huen, T. ; Zhang, M.
出版情報: Thin films and surfaces for bioactivity and biomedical applications : symposium held November 28-29, 1995, Boston, Massachussetts, U.S.A..  pp.101-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 414
14.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
14. The Effects of Stepped Tip Gap on Performance and Flowfield of a Subsonic Axial-Flow Compressor Rotor.
Lu, X. ; Zhu, J. ; Chu, W. ; Wang, R.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2005.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2005
15.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
15. Yield Point Phenomena During Nanoidentation.
Yao, Y. ; Cao, X. ; Qiao, L. ; Chu, W.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2003.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : TRIB
シリーズ巻号: 2003
16.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
16. The Effects of Bend Skewed Groove Casing Treatment on Performance and Flow Field Near Endwall of an Axial Compressor
Zhu, J. ; Chu, W.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 43rd
17.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
17. Axial Location of Casing Treatment in Multistage Axial Flow Compressors.
Zhu, J. ; Wu, Y. ; Chu, W.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2005.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2005
18.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
18. Behavior of Tip Leakage Flow in an Axial Flow Compressor Rotor.
Wu, Y. ; Chu, W. ; Lu, X. ; Zhu, J.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2006.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2006
19.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
19. Mechanism of the Interaction Between Casing Treatment and Tip Leakage Flow in a Subsonic Axial Compressor.
Lu, X. ; Chu, W. ; Zhu, J. ; Wu, Y.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2006.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2006
20.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
20. Experimental and Numerical Investigation of a Subsonic Compressor with Bend Skewed Slot Casing Treatment.
Lu, X. ; Chu, W. ; Zhu, J. ; Wu, Y.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2006.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2006
21.

国際会議録
国際会議録
21. Application of cellular neural networks in the measurement of Iinewidth and line edge roughness [6150-115]
Li, H. ; Zhao, X. ; Chu, W. ; Li, N.
出版情報: 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  pp.61504S-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6150
22.

国際会議録
国際会議録
22. Lithography budget onalysisat the process module level [6154-152]
Brodsky, C. J. ; Chu, W.
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.61543Y-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
23.

国際会議録
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23. Subresolution assist feature implementation for high-performance logic gate-level lithography
Gabor, A.H. ; Bruce, J. ; Chu, W. ; Ferguson, R. ; Fonseca, C.A. ; Gordon, R.L. ; Jantzen, K. ; Khare, M. ; Lavin, M. ; Lee, W.-H. ; Liebmann, L.W. ; Muller, k.P. ; Rankin, J. ; Varekamp, P. ; Zach, F.X.
出版情報: Optical Microlithography XV.  Part One  pp.418-425,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4691
24.

国際会議録
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24. An image stitching method to eliminate the distortion of the sidewall in linewidth measurement
Zhao, X. ; Fu, J. ; Chu, W. ; Nguyen, C. ; Vorburger, T.V.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.363-373,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375
25.

国際会議録
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25. Study of an image stitching method for linewidth measurement
Chu, W. ; Zhao, X. ; Fu, J. ; Vorburger, T.V.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XI.  pp.776-783,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5446
26.

国際会議録
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26. Characterization of across-device linewidth variation (AD LV) for 65-nm logic SRAM using CDSEM and Iinewidth roughness algorithms [6152-34]
Chu, W. ; Radens, C. ; Dirchoui. B. ; Samuels, D. ; Credendino, S. ; Nomura, A. ; Cornell, R.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.61520Y-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152