1.

国際会議録
国際会議録
1. EFFECTS OF TEMPERATURE AND ELECTRICAL STRESS ON THE CHARACTERISTICS OF AMORPHOUS SILICON THIN-FILM TRANSISTORS
Park, J.S. ; Oh, C.H. ; Choi, H.S. ; Han, M.K. ; Choi, Y.I. ; Han, C.H.
出版情報: Amorphous silicon technology 1991 : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.345-350,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 219
2.

国際会議録
国際会議録
2. A NEW MODEL FOR SERIES RESISTANCE OF AMORPHOUS SILICON THIN FILM TRANSISTOR
Kim,Y.S. ; Park, J.S. ; Lee, S.K. ; Hwang, J.R. ; Choi, H.S. ; Choi, Y.I. ; Han, M.K.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1992.  pp.991-996,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 258
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Temperature Dependent Breakdown Voltage For 4H- and 6H-SiC Diodes
Lee, You-Sang ; Han, M.K. ; Choi, Y.I.
出版情報: Wide-bandgap electronic devices.  pp.T6.4-,  2001.  Warrendale, PA..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 622