1.

国際会議録
国際会議録
1. EPR Studies of SiCISiO2 Interfaces in n-type 4H-and 6H- Oxidized Porous SIC
von Bardeleben, H.J. ; Cantin, J.L. ; Mynbaeva, M. ; Saddow, S.E. ; Shishkin, Y. ; Devaty, R.P. ; Choyke, W.J.
出版情報: Silicon nitride and silicon dioxide thin insulating films VII : proceedings of the international symposium.  pp.39-54,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-2
2.

国際会議録
国際会議録
2. Microscopic Structure and Electrical Activity of 4H-SiC/SiO2 Interface Defects : an EPR Study of Oxidized Porous SiC
von Bardeleben, H.J. ; Cantin, J.L. ; Shishkin, Y. ; Devaty, R.P. ; Choyke, W.J.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.1457-1462,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460