1.

国際会議録
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1. Electromigration Drift Velocity in Al and Cu Interconnection
Hu, C.-K. ; Lee, K. Y. ; Lee, K. L. ; Cabral, C., Jr. ; Colgari, E. C.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Reliability of Metals in Electronics.  pp.203-214,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-3
2.

国際会議録
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2. In Situ Monitoring of Thin Film Reactions During Rapid Thermal Annealing: Nickel Silicide Formation
Lavoje, C. ; Purtell, R. ; Cola, C. ; Detavernier, C. ; Desjardins, P. ; Jordan-Sweet, J. ; Cabral, C., Jr. ; d'Heurle, F.M. ; Harper., J.M.E.
出版情報: Rapid thermal and other short-time processing technologies III : proceedings of the international symposium.  pp.455-468,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-11
3.

国際会議録
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3. 46 Evaluation of CMOS gate metal materials using in situ characterization techniques
Cabral, C., Jr. ; Lavoje, C. ; Ozcan, A.S. ; Amos, R.S. ; Naroyanan, V. ; Gusev, E.P. ; Jordan-Sweet, J.L. ; Harpe, J.M.E.
出版情報: Advanced short-time thermal processing for Si-based CMOS devices : proceedings of the international symposium.  pp.375-384,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-14
4.

国際会議録
国際会議録
4. Phase Formation in Cu(Sn) Alloy Thin Films
Clevenger, L. A. ; Arcot, B. ; Ziegler, W. ; Colgan, E. G. ; Hong, Q. Z. ; d'Heurle, F. M. ; Cabral, C., Jr. ; Gallo, T. A. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Advanced metallization for future ULSI : symposium held April 8-11, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.133-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 427
5.

国際会議録
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5. Mechanisms for Microstructure Evolution in Electroplated Copper Thin Films
Harper, J. M. E. ; Cabral, C., Jr. ; Andricacos, P. C. ; Gignac, L. ; Noyan, I. C. ; Rodbell, K. P. ; Hu, C. K.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.387-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
6.

国際会議録
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6. Characterization of Plated Cu Thin Film Microstructures
Gignac, L. M. ; Rodbell, K. P. ; Cabral, C., Jr. ; Andricacos, P. C. ; Rice, P. M. ; Beyers, R. B. ; Locke, P. S. ; Klepeis, S. J.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.373-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
7.

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7. IN-SITU X-RAY DIFFRACTION AND RESISTIVITY ANALYSIS OF CoSi2 PHASE FORMATION WITH AND WITHOUT A Ti INTERLAYER AT RAPID THERMAL ANNEALING RATES
Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Stephenson, G. B. ; Brauer, S. ; Morales, G. ; Ludwig, K. F., Jr.
出版情報: Applications of synchrotron radiation techniques to materials science II : symposium held November 27-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, USA.  pp.253-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 375
8.

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8. The Future of Silicide for CMOS Contacts
Roy, R. A. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.35-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
9.

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9. Light Scattering Measurement of Surface Topography During Formation of Titanium Silicide
Lavoie, C. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E. ; Jordan-Sweet, J. ; Saenger, K. L. ; Doany, F.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.163-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 406
10.

国際会議録
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10. Classification of the Modes of Dissociation in Immiscible Cu-Alloy Thin Films
Barmak, K. ; Lucadamo, G. A. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.341-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
11.

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11. In Situ X-ray Diffraction Analysis of TiSi2 Phase Formation From a Titanium-Molybdenum Bilayer
Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E. ; Roy, R. A. ; Saenger, K. L. ; Miles, G. L. ; Mann, R. W.
出版情報: Thin films - structure and morphology : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.295-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 441
12.

国際会議録
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12. Surface Roughening During Titanium Silicide Formation: A Comparison Between Si(100) and Poly-Si Substrates
Lavoie, C. ; Martel, R. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Structure and evolution of surfaces : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusette, U.S.A..  pp.389-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 440
13.

国際会議録
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13. Effect of Boron Doping on the C49 to C54 Phase Transformation in Ti/Si(100) Bilayers
Quintero, A. ; Libera, M. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Thin films - structure and morphology : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.303-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 441
14.

国際会議録
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14. In Situ TEM Analysis of TiSi2 C49-C54 Transformations During Annealing
Gignac, L. M. ; Svilan, V. ; Clevenger, L. A. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C.
出版情報: Thin films - structure and morphology : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.255-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 441
15.

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15. STRESS EVOLUTION DURING THE FORMATION AND TRANSFORMATION OF TITANIUM SILICIDE
Svilan, V. ; Harper, J. M. E. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A.
出版情報: Thin films, stresses and mechanical properties V : symposium held November 28-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.167-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 356
16.

国際会議録
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16. In-Situ Measurements During Rapid Thermal Annealing for Process Characterization
Colgan, E. G. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Modeling and simulation of thin-film processing : symposium held April 17-20, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.321-,  1995.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 389
17.

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17. SILICIDE FORMATION IN Ti-Si AND Co-Si REACTIONS
Clevenger, L. A. ; Hong, Q. Z. ; Mann, R. ; Harper, J. M. E. ; Barmak, K. ; Cabral, C., Jr. ; Nobili, C. ; Ottaviani, G.
出版情報: Phase transformations in thin films : thermodynamics and kinetics : symposium held April 13-15, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.253-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 311
18.

国際会議録
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18. A Self-Aligned Silicide Process Utilizing Ion Implants For Reduced Silicon Consumption And Control Of The Silicide Formation Temperature
Cohen, G.M. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C. ; Solomon, P.M. ; Guarini, K.W. ; Chan, K.K. ; Roy, R.A.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.35-40,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
19.

国際会議録
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19. Cu and Dilute Binary Cu(Ti),Cu(Sn) and Cu(Al) thin Films: Texture, Grain Growth and Resistivity
Gungor, A. ; Barmak, K. ; Rollett, A.D. ; Cabral, C., Jr. ; Harper, J.M.E.
出版情報: Magnetic and electronic films : microstructure, texture and application to data storage : symposium held April 1-4, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.61-66,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 721
20.

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20. In-situ Studies of Silicide Formation in Ti-Ta Bilayer Thin Films on Poly-Si
Ozcan, A.S. ; Ludwig K.F., Jr. ; Lavoie, C. ; Cabral, C., Jr. ; Harper, J.M.E.
出版情報: Magnetic and electronic films : microstructure, texture and application to data storage : symposium held April 1-4, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.43-50,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 721
21.

国際会議録
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21. A Self-Aligned Silicide Process for Thin Silicon-on-Insulator MOSFETs and Bulk MOSFETs With Shallow Junctions
Cohen, G.M. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C. ; Solomon, P.M. ; Guarini, K.W. ; Chan, K.K. ; Roy, R.A.
出版情報: Materials issues in novel si-based technology : symposium held November 26-28, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.89-94,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 686
22.

国際会議録
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22. The Growth Of Tantalum Thin Films By Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition And Diffusion Barrier Properties
Kim, H. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C. ; Rossnagel, S.M.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.407-412,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
23.

国際会議録
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23. Characterization And Monitoring Of Silicon-On-Insulator Fabrication Processes By High-Resolution X-Ray Diffraction
Cohen, G.M. ; Mooney, P.M. ; Park, H. ; Cabral, C., Jr. ; Jones, E.C.
出版情報: Silicon front-end junction formation technologies : symposium held April 2-4, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.89-94,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 717
24.

国際会議録
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24. Electrodes and Barriers for DRAM and FERAM: Processing, Integration, and Fundamentals
Saenger, K.L. ; Andricacos, P.C. ; Athavale, S.D. ; Baniecki, J.D. ; Cabral, C., Jr. ; Costrini, G. ; Kwietniak, K.T. ; Laibowitz, R.B. ; Lian, J.J. ; Limb, Y. ; Neumayer, D.A. ; Wise, M.L.
出版情報: Ferroelectric thin films IX : symposium held November 26-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A..  2001.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 655
25.

国際会議録
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25. RAPID EVALUATION OF THIN FILM INTERFACIAL REACTIONS USING TEMPERATURE-RAMPED MEASUREMENTS
Harper, J. M. E. ; Clevenger, L. A. ; Colgan, E. G. ; Cabral, C., Jr. ; Arcot, B.
出版情報: Interface control of electrical, chemical, and mechanical properties : symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.307-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 318
26.

国際会議録
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26. COMPRESSIVE STRESS INCREASE WITH REPEATED THERMAL CYCLING IN TANTALUM(OXYGEN) THIN FILMS
Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Schad, R. G.
出版情報: Thin films : stresses and mechanical properties IV : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.57-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 308
27.

国際会議録
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27. Dependence of Crystallographic Texture of C54 TiSi2 on Thickness and Linewidth in Submicron CMOS Structures
Svilan, V. ; Rodbell, K. P. ; Clevenger, L. A. ; Cabral, C., Jr. ; Roy, R. A. ; Lavoie, C. ; Jordan-Sweet, J. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Advanced metallization for future ULSI : symposium held April 8-11, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.53-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 427
28.

国際会議録
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28. In-Situ Resistance Measurements During Rapid Thermal Annealing for Process Characterization
Colgan, E. G. ; Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E.
出版情報: Rapid thermal and integrated processing IV : symposium held April 17-20, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.49-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 387