1.

国際会議録
国際会議録
1. Comparison Between the Cryogenic Behaviour of Deep Submicron Bulk Si and SOI CMOS Devices
Balestra, F. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Proceedings of the fourth Symposium on Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity.  pp.171-186,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-2
2.

国際会議録
国際会議録
2. Analysis and modeling of self-heating effects in thin-film SOI MOSFET's as a function of temperature
Jomaah, J. ; Balestra, F. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.296-303,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
3.

国際会議録
国際会議録
3. Temperature Dependence of Gate-Induced-Drain-Leakage (GIDL) Current in Thin-Film SOl MOSFETs
Jomaah, J. ; Ghibaudo, G. ; Balestra, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity.  pp.260-270,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-9