1.

国際会議録
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1. The Smart-Cut Process: Status and Developments
Aspar, B. ; Lagahe, C. ; Moriceau, H. ; Jalaguier, E. ; Mas, A. ; Rayssac, O. ; Biasse, Soubie; B. ; Bruel, M. ; Auberton-Hevre, A.J. ; Barge, T. ; Letertre, F. ; Maleville, C.
出版情報: Semiconductor wafer bonding : science, technology, and applications : proceedings of the international symposia.  pp.48-59,  1999.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-35
2.

国際会議録
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2. Influence of the annealing duration on the interface roughness and electrical properties of low-dose SIMOX wafers
Munteanu, D. ; Guilhalmenc, C. ; Cristoloveanu, S. ; Moriceau, H. ; Cartier, A.M. ; Aspar, B.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.131-136,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
3.

国際会議録
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3. Unibond SOI wafers achieved by Smart-Cut process
Bruel, M. ; Aspar, B. ; Maleville, C. ; Moriceau, H. ; Auberton-Herve, A.J. ; Barge, T.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.3-14,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
4.

国際会議録
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4. Unibond SOI Wafers Achieved by Smart-Cut Process
Bruel, M. ; Aspar, B. ; Maleville, C. ; Moriceau, H. ; Auberton-Herve, A.J. ; Barge, T.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Semiconductor Wafer Bonding : science, technology, and applications.  pp.13-24,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-36
5.

国際会議録
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5. Detailed Characterization of Wafer Bonding Mechanisms
Maleville, C. ; Rayssac, O. ; Moriceau, H. ; Blasse, B. ; Baroux, L. ; Aspar, B. ; Bruel, M.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Semiconductor Wafer Bonding : science, technology, and applications.  pp.46-55,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-36
6.

国際会議録
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6. Two-dimensional photonic crystal microlasers
Viktorovitch, P. ; Monat, C. ; Mouette, J. ; Seassal, C. ; Letartre, X. ; Rojo-Romeo, P. ; d'Yerville, M.L.V. ; Cassagne, D. ; Albert, J.-P. ; Jalaguier, E. ; Pocas, S. ; Aspar, B.
出版情報: Physics, theory, and applications of periodic structures in optics II : 5-7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.1-11,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5184
7.

国際会議録
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7. The Bonding Energy Control: An Original Way to Debondable Substrates
Moriceau, H. ; Rayssac, O. ; Aspar, B. ; Ghyselen, B.
出版情報: Semiconductor wafer bonding : science, technology, and applications : proceedings of the international symposia.  pp.49-56,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-19
8.

国際会議録
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8. New SOI devices transferred onto fused silica by direct wafer bonding
Lagahe-Blanchard, C. ; Aspar, B. ; Paillet, P. ; Ferlet-Cavois, V. ; Fel, N. ; Pavageau, C. ; du Port de Poncharra, J. ; Moriceau, H.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.237-242,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
9.

国際会議録
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9. Single-Crystal Semiconductor Layer Delamination and Transfer Through Hydrogen Implantation
Bruel, M. ; Aspar, B. ; Moriceau, H. ; Jalaguier, E. ; Lagahe, C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.203-214,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
10.

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10. INVITED: SILICON ON INSULATOR WAFERS USING THE SMART CUT TECHNOLOGY
Auberton-Herve, A.J. ; Barge, T. ; Metral, F. ; Bruel, M. ; Aspar, B. ; Moriceau, H.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1341-1360,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)