1.

国際会議録
国際会議録
1. Injection-Level Spectroscopy of Metal Impurities in Silicon
Ahrenkiel, R. K. ; Johnston, S.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.575-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
2.

国際会議録
国際会議録
2. Measurement of the Temperature Dependence of Silicon Recombination Lifetimes
Johnston, S. ; Ahrenkiel, R. K.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.607-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510