1.

国際会議録

国際会議録
Blackshire, J.L. ; Sathish, S.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.184-193,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703
2.

国際会議録

国際会議録
Druffner, C.J. ; Sathish, S.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.105-113,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703
3.

国際会議録

国際会議録
Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Druffner, C.J. ; Blackshire, J.L. ; Hoffmann, J.P. ; Zhan, Q. ; Andrews, R.J.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems II.  pp.256-265,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
4.

国際会議録

国際会議録
Tsai, Y.-Y. ; Nalladega, V. ; Sathish, S. ; Stanford, M.K.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems II.  pp.36-42,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
5.

国際会議録

国際会議録
Sathish, S. ; Jato, K. V. ; Martin, R. W. ; Reibel, R.
出版情報: Health monitoring and smart nondestructive evaluation of structural and biological systems V : 27 February-1 March 2006, San Diego, California, USA.  pp.617703-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6177
6.

国際会議録

国際会議録
Hsieh, S.-J. ; Crane, R. L. ; Sathish, S.
出版情報: Thermosense XXVII.  pp.221-233,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5782
7.

国際会議録

国際会議録
Blackshire, J.L. ; Sathish, S.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems.  pp.172-182,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045
8.

国際会議録

国際会議録
Druffner, C.J. ; Schumaker, E.J. ; Murray, P.T. ; Sathish, S.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems.  pp.122-131,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045
9.

国際会議録

国際会議録
Hoffmann, J. ; Sathish, S. ; Khobaib, M. ; Meyendorf, N. ; Netzelmann, U. ; Matikas, T. E.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.67-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
10.

国際会議録

国際会議録
Rosner, H. ; Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Matikas, T. E.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.73-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591