1.

国際会議録
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1. Growth of Micropipe-Free Single Crystal Silicon Carbide (SiC) Ingots via PhySiCal Vapor Transport (PVT)
Basceri, C. ; Khlebnikov, I. ; Khlebnikov, Y. ; Muzykov, P. ; Sharma, M. ; Stratiy, G. ; Silan, M. ; Balkas, C.M.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.39-42,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
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2. Mechanisms of Colloid Detachment in a Sonic Field
Sharma, M. ; Tutuncu, A.
出版情報: AIChE 1994 SUMMER MEETING - DENVER, CO - AUGUST 14-17, 1994.  1994.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1994
3.

国際会議録
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3. Rheology of Colloid Laden Interfaces: Influence of Interparticle Interactions
Tambe, D. E. ; Sharma, M.
出版情報: AIChE 1994 SUMMER MEETING - DENVER, CO - AUGUST 14-17, 1994.  1994.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1994
4.

国際会議録
国際会議録
4. Reduction of Macrodefects in Bulk SiC Single Crystals
Balkas, C.M. ; Maltsev, A.A. ; Roth, M.D. ; Heydemann, V.D. ; Sharma, M. ; Yushin, N.K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.59-62,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
5.

国際会議録
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5. Resistivity Mapping of Semi-Insulating 6H-SiC Wafers
Roth, M.D. ; Heydemann, V.D. ; Mitchel, W.C. ; Yushin, N.K. ; Sharma, M. ; Wang, S. ; Balkas, C.M.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.135-138,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
6.

国際会議録
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6. Molecular Dynamics in M18 and EBBA Seen by Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
Sharma, M. ; Singh, K.C. ; Jain, P.C.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.389-391,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365
7.

国際会議録
国際会議録
7. Positron Lifetime Spectroscopy as a Tool for Studying Molecular Motions in n-p-Ethoxybenzylidene-p-Butylaniline
Sharma, M. ; Candramani Singh, K. ; Jain, P.C.
出版情報: Positron annihilation ICPA-13 : proceedings of the 13th International Conference on Positron Annihilation, Kyoto, Japan, September 2003.  pp.244-248,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 445-446
8.

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8. Resistivity Mapping of Semi-Insulating 6H-SiC Wafers
Roth, M.D. ; Heydemann, V.D. ; Mitchel, W.C. ; Yushin, N.K. ; Sharma, M. ; Wang, S. ; Balkas, C.M.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.135-138,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
9.

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9. Reduction of Macrodefects in Bulk SiC Single Crystals
Balkas, C.M. ; Maltsev, A.A. ; Roth, M.D. ; Heydemann, V.D. ; Sharma, M. ; Yushin, N.K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.59-62,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
10.

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10. Fuzzy-logic-based active vibration control of beams using piezoelectric patches
Sharma, M. ; Singh, S.P. ; Sachdeva, B.L.
出版情報: Smart Materials, Structures, and Systems.  pp.538-544,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5062