1.

国際会議録
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1. SIMULATOR FOR DYNAMIC ION BEAM MIXING
Seidl, A. ; Fujii, K. ; Kiuchi, M. ; Satou, M. ; Takai, M.
出版情報: Beam-solid interactions : fundamentals and applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.29-34,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 279
2.

国際会議録
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2. Influence of mask induced polarization effects on a pattern printability
Ishimaru, T. ; Matsuura, S. ; Seki, M. ; Fujii, K. ; Koizumi, R. ; Hakataya, Y. ; Moriya, A.
出版情報: Optical microlithography XVIII : 1-4 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.576-586,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5754
3.

国際会議録
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3. Investigation of polarization effects on new mask materials
Itakura, Y. ; Kawasa, Y. ; Wakabayashi, O. ; Moriya, M. ; Nagai, S. ; Sumitani, A. ; Hagiwara, T. ; Ishimaru, T. ; Tsuji, S. ; Fujii, K. ; Wakamiya, W.
出版情報: Optical microlithography XVIII : 1-4 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.587-598,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5754
4.

国際会議録
国際会議録
4. Novel Wet Taper Etching of Interconnects on Large Area Substrates Using Galvanic Reaction
Kaneko, T. ; Hashimoto, Y. ; Ono, K. ; Fujii, K. ; Onisawa, K.
出版情報: Thin Film Transistor Technologies V : proceedings of the International Symposium.  pp.160-168,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-31
5.

国際会議録
国際会議録
5. Novel testing scheme for selection of capacitive fingerprint sensor LSIs
Shimamura, T. ; Morimura, H. ; Unno, H. ; Fujii, K. ; Shigematsu, S. ; Machida, K. ; Kyuragi, H.
出版情報: Design, characterization, and packaging for MEMS and microelectronics II : 17-19 December, 2001, Adelaide, Australia.  pp.23-30,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4593
6.

国際会議録
国際会議録
6. High potential performances of tubular type SOFC using metallic system components
Momma, A. ; Kaga, Y. ; Fujii, K. ; Hohjyo, K. ; Kanazawa, M. ; Okuo, T.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on Solid Oxide Fuel Cells (SOFC-V).  pp.311-320,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-40
7.

国際会議録
国際会議録
7. CHARACTERIZATION OF DEFECTS IN Gap, GaAs AND GaAs1-xPx ELECTROLUMINESCENT DIODES BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
Hirata, M. ; Takeda, S. ; Fujii, K.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.495-498,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
8.

国際会議録
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8. MICRO-RBS ANALYSIS OF MASKLESSLY FABRICATED STRUCTURES
Kinomura, A. ; Takai, M. ; Matsuo, T. ; Satou, M. ; Kiuchi, M. ; Fujii, K. ; Namba, S.
出版情報: Processing and characterization of materials using ion beams : symposium held November 28-December 2, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.743-748,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 128
9.

国際会議録
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9. Recording and reconstruction of 3D color images of practical objects by phase-shifting holography [6030-05]
Hamada, Y. ; Sato, K. ; Morimoto, M. ; Fujii, K.
出版情報: ICO20 : display devices and systems : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.603005-603005,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6030
10.

国際会議録
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10. Reconstruction of full-color images with a RGB time-sharing holographic display system [6030-04]
Sato, K. ; Sugita, A ; Morimoto, M. ; Fujii, K.
出版情報: ICO20 : display devices and systems : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.603004-603004,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6030