1.

国際会議録

国際会議録
Druffner, C.J. ; Sathish, S.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.105-113,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703
2.

国際会議録

国際会議録
Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Druffner, C.J. ; Blackshire, J.L. ; Hoffmann, J.P. ; Zhan, Q. ; Andrews, R.J.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems II.  pp.256-265,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
3.

国際会議録

国際会議録
Druffner, C.J. ; Schumaker, E.J. ; Murray, P.T. ; Sathish, S.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Material Systems.  pp.122-131,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5045