1.

国際会議録

国際会議録
Zhu,X. ; Shi,Q.
出版情報: Object detection, classification, and tracking technologies : 22-24 October 2001, Wuhan, China.  pp.135-140,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4554
2.

国際会議録

国際会議録
Munro,E. ; Zhu,X. ; Rouse,J.A. ; Liu,H.
出版情報: Charged particle detection, diagnostics, and imaging : 30 July - 2 August 2001 San Diego, USA.  pp.218-224,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4510
3.

国際会議録

国際会議録
Stanton,S.T. ; Waskiewicz,W.K. ; Munro,E. ; Rouse,J.A. ; Zhu,X.
出版情報: Emerging lithographic technologies V : 27 February-1 March, 2001, Santa Clara, [California], USA.  pp.126-137,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4343
4.

国際会議録

国際会議録
Stenkamp,D. ; Kienzle,O. ; Orchowski,A. ; Rau,W.D. ; Weickenmeier,A. ; Benner,G. ; Wetzke,M. ; Waskiewicz,W.K. ; Katsap,V. ; Zhu,X. ; Liu,H. ; Munro,E. ; Rouse,J.A.
出版情報: Emerging lithographic technologies V : 27 February-1 March, 2001, Santa Clara, [California], USA.  pp.115-125,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4343
5.

国際会議録

国際会議録
Niblack,W. ; Zhu,X. ; Hafner,J.L. ; Breuel,T. ; Ponceleon,D.B. ; Petkovic,D. ; Flickner,M.D. ; Upfal,E. ; Nin,S.I. ; Sull,S. ; Dom,B.E. ; Yeo,B.-L. ; Srinivasan,S. ; Zivkovic,D. ; Penner,M.
出版情報: Storage and retrieval for image and video databases VI : 28-30 January 1998, San Jose, California.  pp.150-161,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3312
6.

国際会議録

国際会議録
Zhu,X. ; Liang,F. ; Haji-Sheikh,A. ; Ghariban,N.
出版情報: Advances in resist technology and processing XV : 23-25 February 1998, Santa Clara, California.  Part 2  pp.1441-1451,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3333
7.

国際会議録

国際会議録
Zhai,H. ; Zhu,X. ; Mu,C.
出版情報: 18th Congress of the International Commission for Optics : Optics for the next millennium : 2-6 August, 1999, San Francisco, California.  pp.213-214,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3749
8.

国際会議録

国際会議録
Fan,Z. ; Ni,J. ; Huang,Y. ; Zhu,X.
出版情報: Flatness, roughness, and discrete defects characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays II : 29-30 January 1998, San Jose, California.  pp.180-183,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3275
9.

国際会議録

国際会議録
Zhu,X. ; Munro,E. ; Rouse,J.A. ; Liu,H. ; Waskiewicz,W.K.
出版情報: Charged particle optics IV : 22-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.35-46,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3777
10.

国際会議録

国際会議録
Rouse,J.A. ; Zhu,X. ; Munro,E. ; Liu,H. ; Waskiewicz,W.K. ; Katsap,V.
出版情報: Charged particle optics IV : 22-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.65-74,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3777