1.

国際会議録
国際会議録
1. REAL-TIME MONITORING AND CONTROL OF SILICON EPITAXY USING EMISSION FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY
Zhou, Z. H. ; Kim, H. ; Reif, Rafael
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.365-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324
2.

国際会議録
国際会議録
2. Specific Heat and Solidification of Undercooled Bi-Sb Alloy Melts
Zhou, Z. H. ; Zhao, J. H. ; Sun, L. L. ; Dai, D. Y. ; Wang, W. K.
出版情報: Solidification and gravity 2000.  pp.513-518,  2000.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 329-330
3.

国際会議録
国際会議録
3. Nucleation in Undercooled Ge73.7Ni26.3 Alloy Melt Induced by Ni, Cu and Si Clusters
Wang, W. K. ; Liu, R. P. ; Zhou, Z. H. ; Cao, L. M. ; Sun, L. L.
出版情報: Solidification and gravity 2000.  pp.5-12,  2000.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 329-330