1.

国際会議録
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1. Why are Only Some Basal plane Dislocations Converted to Threading Edge Dislocations during SiC Epitaxy?
Zhang, Z.H. ; Shrivastava, A. ; Sudarshan, T.S.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.419-422,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
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2. Performance of Silicon Carbide PiN Diodcs Fabricated on Basal Plane Dislocation-Free Epilayers
Zhang, Z.H. ; Grekov, A.E. ; Sadagopan, P. ; Maximenko, S.I. ; Sudarshan, T.S.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.371-374,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
3.

国際会議録
国際会議録
3. Growth and optical storage properties of Ce:Tb:KNSBN crystals
Wang, J. ; Zhang, Z.H. ; Zhu, Z.B. ; Wang, R.
出版情報: Advanced optical storage technology : 15-18 October, 2002, Shanghai, China.  pp.512-515,  2002.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4930
4.

国際会議録
国際会議録
4. ION BEAM ANALYSIS OF O, N, AND B COMPOSITIONS IN MATERIALS USING NON-RUTHERFORD SCATTERING OF PROTONS
Parikh, N.R. ; Zhang, Z.H. ; Swanson, M.L. ; Yu, N. ; Chu, W.K.
出版情報: Processing and characterization of materials using ion beams : symposium held November 28-December 2, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.375-380,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 128
5.

国際会議録
国際会議録
5. PC-based 3D craniofacial reconstruction
Zhang, Z.H. ; Peng, X. ; Liu, C.Q. ; Hu, X.T.
出版情報: Optical manufacturing technologies : 17-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.34-42,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4921
6.

国際会議録
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6. Growth and photorefractive properties of Ce:Cu:KLN crystals
Wang, J. ; Zhang, Z.H. ; Liu, C.X. ; Wang, R.
出版情報: Advanced optical storage technology : 15-18 October, 2002, Shanghai, China.  pp.532-535,  2002.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4930
7.

国際会議録
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7. Growth of Low Basal Plane Dislocation Density SiC Epitaxial Layers
Zhang, Z.H. ; Sudarshan, T.S.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.243-246,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
8.

国際会議録
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8. New 3D imaging sensor: gaining range and texture
Zhang, Z.H. ; Zhang, D. ; Peng, X. ; Hu, X.T.
出版情報: Second International Conference on Image and Graphics.  Part Two  pp.925-930,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4875
9.

国際会議録
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9. Emissive spectral analysis applied in 15N excretion test of Helicobacter pylori
Zhu, Y.Y. ; Wu, J.C. ; Zhang, Z.H.
出版情報: Optics in Health Care and Biomedical Optics: Diagnostics and Treatment.  pp.194-196,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4916