1.

国際会議録
国際会議録
1. Influence of Electron Irradiation Induced Defects on the Current-Voltage Characteristics of a Resonant Tunneling Diode
Grandidier,B. ; Stievenard,D. ; Deresmes,D. ; Vanbcsien,O. ; Lippens,D. ; Lorriaux,J.L. ; Zazoui,M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.3  pp.1553-1558,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
2.

国際会議録
国際会議録
2. Recombination centers in electron irradiated Si and GaAs
Bourgoin,J.C. ; Zazoui,M. ; Zaidi,M.A.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.629-634,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録
国際会議録
3. Defects in Electron Irradiated GaP and GaInP
Zaidi,M.A. ; Maaref,H. ; Zazoui,M. ; Bourgoin,J.C.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.295-298,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
4.

国際会議録
国際会議録
4. Detection Of Defects Responsible for Lifetime in p-Type Si
Zazoui,M. ; Bourgoin,J.C. ; Stievenard,D. ; Deresmes,D.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.189-194,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147