1.

国際会議録
国際会議録
1. Solar-radiation-based calibration in the range 740 to 2400 nm
Biggar,S.F. ; Thome,K.J. ; Spyak,P.R. ; Zalewski,E.F.
出版情報: Sensors, systems, and next-generation satellites III : 20-23 September 1999, Florence, Italy.  pp.228-233,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3870
2.

国際会議録
国際会議録
2. MTI on-orbit calibration
Clodius,W.B. ; Bender,S.C. ; Kay,R.R. ; Smith,B.W. ; Atkins,W.H. ; Christensen,R.W. ; Little,C.K. ; Zalewski,E.F. ; Rappoport,W.M.
出版情報: Imaging spectrometry V : 19-21 July 1999, Denver, Colorado.  pp.380-391,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3753
3.

国際会議録
国際会議録
3. Radiometric measurement comparisons using transfer radiometers in support of the calibration of NASA's Earth Observing System(EOS)sensors
Butler,J.J. ; Johnson,B.C. ; Brown,S.W. ; Yoon,H.W. ; Barnes,R.A. ; Markham,B.L. ; Biggar,S.F. ; Zalewski,E.F. ; Spyak,P.R. ; Cooper,J.W. ; Sakuma,F.
出版情報: Sensors, systems, and next-generation satellites III : 20-23 September 1999, Florence, Italy.  pp.180-192,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3870
4.

国際会議録
国際会議録
4. Radiance stabilization of a calibration sphere source using two spectral bands
Ding,X. ; Zalewski,E.F. ; Biggar,S.F.
出版情報: Earth observing systems V : 2-4 August 2000, San Diego, USA.  pp.88-95,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4135
5.

国際会議録
国際会議録
5. Ground-reference techniques for the absolute radiometrlc callbration of MODIS
Thome,K.J. ; Whittington,E.E. ; Smith,N. ; Nandy,P. ; Zalewski,E.F.
出版情報: Earth observing systems V : 2-4 August 2000, San Diego, USA.  pp.51-59,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4135