1.

国際会議録

国際会議録
Chow, Y.F. ; Foo, T.H. ; Shen, L. ; Pan, J.S. ; Du, A. Y. ; Xing, Z.X. ; Yuan, Y.J. ; Li, C.Y. ; Kumar, R. ; Foo, P.D.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.563-568,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
2.

国際会議録

国際会議録
Yuan, Y.J. ; Hentze, H.-P. ; Arnold, W.M. ; Marlow, B.K. ; Antonietti, M.
出版情報: Smart materials II : 16-18 December 2002, Melbourne, Australia.  pp.351-355,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4934
3.

国際会議録

国際会議録
Yuan, Y.J. ; Andrews, M.K. ; Arnold, W.M. ; Marlow, B.K.
出版情報: Nanotechnology.  pp.421-424,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5118