1.

国際会議録

国際会議録
Yliniemi, S. ; Albert, J. ; Laronche, A. ; Wang, Q. ; Honkanen, S.
出版情報: Integrated Optics, Silicon Photonics, and Photonic Integrated Circuits.  pp.61830M-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6183
2.

国際会議録

国際会議録
Aalto, T.T. ; Kapulainen, M. ; Yliniemi, S. ; Heimala, P. ; Leppihalme, M.J.
出版情報: Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies VII.  pp.149-159,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4987
3.

国際会議録

国際会議録
Yliniemi, S. ; Aalto, T.T. ; Heimala, P. ; Pekko, P. ; Jefimovs, K. ; Simonen, J. ; Uusitupa, T.
出版情報: Integrated Optical Devices: Fabrication and Testing.  pp.23-31,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4944
4.

国際会議録

国際会議録
Aalto, T. ; Yliniemi, S. ; Heimala, P. ; Pekko, P. ; Simonen, J. ; Kuittinen, M.
出版情報: Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies VI.  pp.117-124,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4640
5.

国際会議録

国際会議録
Aalto, T.T. ; Heimala, P. ; Yliniemi, S. ; Kapulainen, M. ; Leppihalme, M.J.
出版情報: Integrated Optical Devices: Fabrication and Testing.  pp.183-194,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4944