1.

国際会議録
国際会議録
1. Hot-Carrier Effect in Submicron pMOSFETs
Saha, S. ; Yeh, C. S. ; Lindorfer, Ph. ; Luo, J. ; Nellore, U. ; Gadepally, B.
出版情報: Materials reliability in microelectronics V : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.21-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 391
2.

国際会議録
国際会議録
2. Cluster-Ion Photodissociation and Spectroscopy in a Reflectron Time-of-Flight Mass Spectrometer
Willey, K. F. ; Robbins, D. L. ; Yeh, C. S. ; Duncan, M. A.
出版情報: Time-of-flight mass spectrometry.  pp.61-,  1994.  Washington, DC.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 549