1.

国際会議録
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1. Skew cone beam lambda tomography (Invited Paper) [6318-16]
Ye, Y. ; Yu, H. ; Wang, G.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.63180G-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
2.

国際会議録
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2. Approximate and exact cone-beam reconstruction with standard and non-standard spiral scanning (Invited Paper) [6318-15]
Wang, G. ; Ye, Y. ; Yu, H.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.63180F-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
3.

国際会議録
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3. Effect of bandwidth on the intensities of an apertured laser in the near and far fields [6028-73]
Peng, R. ; Ye, Y. ; Tang, Z. ; Fan, D.
出版情報: ICO20 : lasers and laser technologies : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.602821-602821,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6028
4.

国際会議録
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4. Designing a survivable IP-over-WDM network
Assi, C.M ; Ye, Y. ; Shami, A.A ; Habib, I. ; Ali, M.A. ; Dixit, S.
出版情報: OptiComm 2001 : optical networking and communications, 21-22 August 2001, Denver, USA.  pp.1-11,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4599
5.

国際会議録
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5. Preparation and Properties of sol-gel derived Ba0.7Sr0.3TiO3 thin Films for DRAMs
Ye, Y. ; Ding, A.L. ; Tang, X.G. ; Luo, W.G.
出版情報: Semiconductor technology (ISTC 2001) : proceedings of the 1st International Conference on Semiconductor Technology.  pp.367-373,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-17
6.

国際会議録
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6. Joint lightpath routing approach in survivable optical networks
Xin, C. ; Ye, Y. ; Dixit, S. ; Qiao, C.
出版情報: APOC 2001: Asia-Pacific Optical and Wireless Communications : optical networking : 13-15 November 2001, Beijing, Chaina.  pp.139-146,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4585
7.

国際会議録
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7. Enhanced route assignment mechanism in optical control plane
Xin, C. ; Ye, Y. ; Dixit, S. ; Qiao, C.
出版情報: OptiComm 2001 : optical networking and communications, 21-22 August 2001, Denver, USA.  pp.104-111,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4599
8.

国際会議録
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8. 0.35 um and sub-0.35 um Matal Stack Etch in a DPS Chamber - DPS Chamber and Process Characterization
Ye, Y. ; Ma, D. ; Hanawa, H. ; Loewenhardt, P. ; Zhao, A. ; Shiau, J. ; Yan, C. ; Webb, T. ; Mak, S. ; Papanu, J. ; Yin, G.
出版情報: Proceedings of the eleventh International Symposium on Plasma Processing.  pp.222-233,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-12
9.

国際会議録
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9. Katsevich-type algorithims for variable radius spiral cone-beam CT
Yu, H. ; Ye, Y. ; Wang, G.
出版情報: Developments in X-ray tomography IV : 4-6 August, 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.550-557,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5535
10.

国際会議録
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10. Numerical studies on Feldkamp-type and Katsevich-type algorithms for cone-beam scanning along nonstandard spirals
Zhu, J. ; Zhao, S. ; Yu, H. ; Ye, Y. ; Lee, S.W. ; Wang, G.
出版情報: Developments in X-ray tomography IV : 4-6 August, 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.558-565,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5535