1.

国際会議録
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1. Effect of stage synchronization error of KrF scan on 0.18-ｦﾌm patterning
Uchiyama,T. ; Hashimoto,T. ; Fujimoto,M. ; Matsuura,S. ; Yamazaki,T. ; Kasama,K.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.67-76,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
2.

国際会議録
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2. Model-based SAR ATR system
Ikeuchi,K. ; Wheeler,M.D. ; Yamazaki,T. ; Shakunaga,T.
出版情報: Algorithms for synthetic aperture radar imagery lll : 10-12 April 1996, Orlando, Florida.  pp.376-387,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2757
3.

国際会議録
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3. Depth-of-focus enhancement of isolated lines by multiple-focus exposure with negative-tone resist process
Fujimoto,M. ; Yamazaki,T. ; Hashimoto,T.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part2  pp.1100-1110,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
4.

国際会議録
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4. Investigation of Near Surface Defects by Vallable-Energy Positron Lifetime Spectroscopy
Suzuki,R. ; Kobayashi,Y. ; Mikado,T. ; Ohgaki,H. ; Chiwaki,M. ; Yamazaki,T. ; Tomimasu,T.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1459-1462,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
5.

国際会議録
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5. Three Dimensional Scanning Positron Lifetime Spectroscopy
Suzuki,R. ; Mikado,T. ; Ohgaki,H. ; Chiwaki,M. ; Yamazaki,T.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.217-220,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
6.

国際会議録
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6. Moderation of Positrons Generated by an Electron Linac
Suzuki,R. ; Ohdaira,T. ; Mikado,T. ; Uedono,A. ; Ohgaki,H. ; Yamazaki,T. ; Tanigawa,S.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-11 : Proceedings of the 11th International Conference on Positron Annihilation, Kansas City, Missouri, USA, May 1997.  pp.114-118,  1997.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 255-257
7.

国際会議録
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7. Positron Pulsing System for Variable Energy Positron Lifetime Spectroscopy
Suzuki,R. ; Kobayashi,Y. ; Mikado,T. ; Ohgaki,H. ; Chiwaki,M. ; Yamazaki,T. ; Tomimasu,T.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1993-1996,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
8.

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8. Auger Line Shape Analysis by Time-of-Flight Positron-Annihilation Induced Auger-Electron Spectroscopy
Ohdaira,T. ; Suzuki,R. ; Mikado,T. ; Yamazaki,T.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-11 : Proceedings of the 11th International Conference on Positron Annihilation, Kansas City, Missouri, USA, May 1997.  pp.769-771,  1997.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 255-257
9.

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9. Positron Lifetime Study on Semiconductor Thin Films
Suzuki,R. ; Ohdaira,T. ; Uedono,A. ; Ishibashi,S. ; Matsuda,A. ; Yoshida,S. ; Ishida,Y. ; Niki,S. ; Fons,P.J. ; Mikado,T. ; Yamazaki,T. ; Tanigawa,S. ; Cho,Y.K.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-11 : Proceedings of the 11th International Conference on Positron Annihilation, Kansas City, Missouri, USA, May 1997.  pp.714-717,  1997.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 255-257
10.

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10. FRAM technologies compatible with 0.5-ｦﾌm CMOS logics (Invited Paper)
Furumura,Y. ; Yamazaki,T. ; Nakamura,M. ; Inoue,K. ; Miyazawa,H. ; Sashida,N. ; Satomi,R. ; Katoh,Y. ; Ozawa,S. ; Takai,K. ; Noshiro,H. ; Shinohara,R. ; Obata,V. ; Kerry,A. ; Tani,K. ; Nakashima,S. ; Nakajima,T. ; Imal,M. ; Takesima,T. ; Teramoto,T.
出版情報: Microelectronic device technology II : 23-24 September, 1998, Santa Clara, California.  pp.56-64,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3506