1.

国際会議録

国際会議録
Furukawa, M. ; Oh-ishi, K. ; Komura, S. ; Yamashita, A. ; Horita, Z. ; Nemoto, M. ; Langdon, T. G.
出版情報: Towards innovation in superplasticity II : proceedings of the 2nd International Conference "Towards Innovation in Superplasticity", held in Kobe City, Japan, September 1998.  pp.97-102,  1999.  Tuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 304-306
2.

国際会議録

国際会議録
Kobayashi, M.N. ; Hasebe, N. ; Yamashita, A. ; Oka, A. ; Shibamura, E. ; Miyachi, T. ; d'Uston, C. ; Maurice, S.
出版情報: Proceedings of the fourth International Conference on Exploration and Utilisation of the Moon, ICEUM 4, 10-14 July 2000, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands.  pp.183-186,  2000.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 462
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Yamashita, A. ; Ohki, H. ; Tomoda, T. ; Nakatani, K.
出版情報: 2011 SAE world congress : technical paper.  2011.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2011
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Kosaki, H. ; Yamashita, A.
出版情報: 2011 JSAE/SAE International Powertrains, Fuels and Lubricants Meeting : technical paper.  2011.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2011
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Yamashita, A. ; Kosaki, H.
出版情報: 2011 JSAE/SAE International Powertrains, Fuels and Lubricants Meeting : technical paper.  2011.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2011
6.

国際会議録

国際会議録
Hamagishi, G. ; Ando, T. ; Higashino, M. ; Yamashita, A. ; Mashitani, K. ; Inoue, M. ; Kishimoto, S. ; Kobayashi, T.
出版情報: Stereoscopic Displays and Virtual Reality Systems IX.  pp.275-284,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4660
7.

国際会議録

国際会議録
Sendelbach, M. ; Natzle, W. ; Archie, C.N. ; Banke, B. ; Prager, D. ; Engelhard, D. ; Ferns, J. ; Yamashita, A. ; Funk, M. ; Higuchi, F. ; Tomoyasu, M.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.686-702,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375