1.

国際会議録
国際会議録
1. MEMS hybridization: bridging the free-space gap
Blair,P. ; McMillan,D. ; Podlecki,J. ; Begbie,M.L. ; Yallup,K.
出版情報: MEMS design, fabrication, characterization, and packaging : 30 May-1 June 2001, Edinburgh, UK.  pp.193-201,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4407
2.

国際会議録
国際会議録
2. Defects in High-Dose Oxygen Implanted Silicon
Veirman,A.De ; Yallup,K. ; Landuyt,J.Van ; Maes,H.E.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.207-212,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41