1.

国際会議録

国際会議録
U. Farva ; Y. Na ; Y. Kim ; D. Kim ; T. Nguyen
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices and processes 7.  pp.183-186,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(3)
2.

国際会議録

国際会議録
Y. Na ; M. Ehlers ; W. Yang
出版情報: Remote sensing for environmental monitoring, GIS applications, and geology VI : 13-14 September 2006, Stockholm, Sweden.  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6366
3.

国際会議録

国際会議録
J. Park ; M. Tada ; H. Yu ; D. Kuzum ; Y. Na
出版情報: SiGe, Ge, and Related Compounds 3: Materials, Processing, and Devices.  pp.909-916,  2008.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(10)
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
C. Lee ; Y. Na ; Y. Hwang ; S. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2006
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Y. Na ; C. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2007
6.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Y. Na ; C. Lee
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
7.

国際会議録

国際会議録
Y. Na ; M. Ehlers ; H. Ji ; L. Shi
出版情報: Remote sensing for environmental monitoring, GIS applications, and geology VII : 17-20 September 2007, Florence, Italy.  pp.67490O-1-67490O-11,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6749
8.

国際会議録

国際会議録
Y. Na ; M. Ehlers ; J. Meng ; Z. Yang
出版情報: Remote sensing for environmental monitoring, GIS applications, and geology VIII : 15-18 September 2008, Cardiff, Wales, United Kingdom.  pp.71100U-1-71100U-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7110