1.

国際会議録
国際会議録
1. CONTROL OF Si-SiO2 INTERFACE PROPERTIES IN MOS DEVICES PREPARED BY PLASMA-ASSISTED AND RAPID THERMAL PROCESSES
Lucovsky, G. ; Yasuda, T. ; Ma, Y. ; Hattangady, S. V. ; Xu, X-L. ; Misra, V. ; Hornung, B. ; Wortman, J. J.
出版情報: Interface control of electrical, chemical, and mechanical properties : symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.81-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 318
2.

国際会議録
国際会議録
2. ELECTRICAL PROPERTIES OF STACKED RTO/RTCVD OXIDES AS GATE DIELECTRICS
Misra, Y. ; Xu, X-L. ; Wortman, J. J.
出版情報: Rapid thermal and integrated processing III : symposium held April 4-7, 1994, San Francisco, California, U.S.A..  pp.187-,  1994.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 342