1.

国際会議録

国際会議録
Sun, Q. ; Wang, Z.Q. ; Quan, W. ; Li, F.Y. ; Xie, Y.J. ; Lu, Z.W. ; Chen, B.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.125-132,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
2.

国際会議録

国際会議録
Xie, Y.J. ; Lu, Z.W. ; Li, F.Y. ; Weng, Z.C.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.381-384,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
3.

国際会議録

国際会議録
Zhang, H.J. ; Wang, Z.Q. ; Zhao, Q.L. ; Li, F.Y. ; Xie, Y.J. ; Chen, B. ; Lu, Z.W.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.788-793,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927