1.

国際会議録
国際会議録
1. Deep Level Defects in He-Implanted n-6H-SiC Studied by Deep Level Transient Spectroscopy
Chen, X.D. ; Ling, C.C. ; Fung, S. ; Beling, C.D. ; Wu, H.S. ; Brauer, G. ; Anwand, W. ; Skorupa, W.
出版情報: Silicon carbide 2004--materials, processing and devices : symposium held April 14-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.163-168,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 815
2.

国際会議録
国際会議録
2. Quasi-cw diode-array-pumped Yb:YAG slab laser
Wu, H.S. ; Yan, P. ; Gong, M.L. ; Liu, Q. ; Li, C. ; Cui, R.Z. ; Jia, W.P. ; Sheng, D.C.
出版情報: High-Power Lasers and Applications II.  pp.14-20,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4914
3.

国際会議録
国際会議録
3. Experiment and design of near-diffraction-limited cw and Q-cw Yb:YAG microchip lasers
Yan, P. ; Wu, H.S. ; Gong, M.L. ; Liu, Q. ; Cui, R.Z. ; Jia, W.P.
出版情報: High-Power Lasers and Applications II.  pp.448-455,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4914