1.

国際会議録

国際会議録
Tavendale, A. J. ; Pearton, S. J. ; Williams, A. A. ; Alexiev, D.
出版情報: Degradation mechanisms in III-V compound semiconductor devices and structures : symposium held April 17-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.87-92,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 184
2.

国際会議録

国際会議録
Travendale, A. J. ; Williams, A. A. ; Pearton, S. J.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.285-290,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
3.

国際会議録

国際会議録
Williams, A. A. ; Lea, A. G. H. ; Timberlake, C. F.
出版情報: Flavor quality, objective measurement : a symposium.  pp.71-,  1977.  Washington.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 51