1.

国際会議録
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1. Physical Limitations in Scaling Field-Effect Transistors and Technologies beyond CMOS
Willander,M. ; Fu,Y.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 2  pp.986-993,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
2.

国際会議録
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2. SIN tunnel junction as a temperature sensor
Golubev,D. ; Kuzmin,L.S. ; Willander,M.
出版情報: Photodetectors : materials and devices IV : 27-29 January 1999, San Jose, California.  pp.364-370,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3629
3.

国際会議録
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3. Photoreflection spectrum on Si-surface-delta-doped GaAs
Lu,W. ; Liu,X. ; Chen,X. ; Shi,G.L. ; Qiao,Y.M. ; Shen,S.C. ; Fu,Y. ; Willander,M.
出版情報: Photodetectors : materials and devices IV : 27-29 January 1999, San Jose, California.  pp.409-414,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3629
4.

国際会議録
国際会議録
4. Intermixing effect in quantum well infrared detector
Lu,W. ; Li,N. ; Zhang,L.F. ; Shen,S.C. ; Fu,Y. ; Willander,M. ; Fu,L. ; Tan,H.H. ; Jagadish,C.
出版情報: Infrared technology and applications XXVI : 30 July - 3 August 2000, San Diego, USA.  pp.348-352,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4130
5.

国際会議録
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5. Scanning photoluminescence microscopy on GaAs/AlGaAs single quantum wire at room temperature
Li,Z.-F. ; Lu,W. ; Liu,X. ; Shen,S.C. ; Fu,Y. ; Willander,M. ; Tan,H.H. ; Jagadish,C.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.195-198,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
6.

国際会議録
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6. Why QDIPs are still inferior to QWIPs: theoretical analysis
Ryzhii,V. ; Khmyrova,I. ; Ryzhii,M. ; Pipa,V.I. ; Mitin,V.V. ; Willander,M.
出版情報: Photodetectors : materials and devices VI : 22-24 January 2001, San Jose, USA.  pp.396-403,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4288
7.

国際会議録
国際会議録
7. The Gate Bias Vs.the Number of Electrons Confined in Si-Dot-Based Single-Electron Transistor
Fu,Y. ; Willander,M. ; Dutta,A. ; Oda,S.
出版情報: Proceedings of the Tenth International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices (December 14-18, 1999).  Part2  pp.1027-1032,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3975
8.

国際会議録
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8. Advances in Organic Blue and Green Light Sources:Comparison with GaN- and ZnSe-Based Devices
Jain,S.C. ; Geens,W. ; Poortmans,J. ; Heremans,P. ; Nijs,J. ; Mertens,R. ; Willander,M.
出版情報: Proceedings of the Tenth International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices (December 14-18, 1999).  Part2  pp.1099-1106,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3975
9.

国際会議録
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9. Quantum Transport and Minimum Switching Voltage in a Field-Effect Transistor
Willander,M. ; Fu,Y. ; Nilsson,O.
出版情報: Ultrafast phenomena in semiconductors : proceedings of the 10th International Symposium on Ultrafast Phenomena in Semiconductors (10-UFPS), held in Vilnius, Lithuania, August/September, 1998.  pp.3-10,  1999.  Zurich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 297-298
10.

国際会議録
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10. Optimizing electron-photon coupling in quantum well infrared photodetectors
Fu,Y. ; Willander,M. ; Lu,W. ; Xu,W.L. ; Li,N. ; Shen,S.C.
出版情報: Photodetectors : materials and devices IV : 27-29 January 1999, San Jose, California.  pp.114-120,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3629