1.

国際会議録
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1. MOLECULAR BEAM EPITAXIAL GROWTH OF VERY HIGH MOLECULAR BEAN EPITAXIAL GROWTH OF VERY HIGH Si/GeSi HETEROSTRUCTURES
Xie, Y.H. ; Fitzgerald, E.A. ; Mii, Y,J, ; Monroe, D. ; Thiel, F.A. ; Weir, B.E. ; Feldman, L.C.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.413-420,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
2.

国際会議録
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2. INVITED: LOW VOLTAGE GATE DIELECTRIC RELIABILITY
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
3.

国際会議録
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3. PROPERTIES OF Pt/Ti CONTACTS TO III-V MATERIALS
Katz, A. ; Nakahara, S. ; Chu, S.N.G. ; Weir, B.E. ; Abernathy, C.R. ; Hobson, W.S. ; Pearton, S.J. ; Savin, W.
出版情報: Long-wavelength semiconductor devices, materials, and processes : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.305-312,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 216
4.

国際会議録
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4. Electroless copper deposition on tungsten for silicon integrated circuits
Mak, C.Y. ; Feldman, L.C. ; Wong, Y-H. ; Weir, B.E. ; Blanco, J. ; Angyal, M. ; Scacham-Diamond, Y.
出版情報: Proceedings of the Second International Symposium on Electrochemical Technology Applications in Electronics.  pp.233-256,  1993.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1993-20
5.

国際会議録
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5. MICROSTRUCTURE, STRESS AND ELECTRICAL PROPERTIES OF THE HIGHLY STABLE W/p+-In0.53Ga0.47As OHMIC CONTACTS
Katz, A. ; Maher, D. ; Thomas, P.M. ; Weir, B.E. ; Dautremont-Smith, W.C. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Beam-solid interactions : physical phenomena : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.479-484,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 157
6.

国際会議録
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6. BORON DIFFUSION IN Si1-XGeX STRAINED LAYERS
Moriya, N. ; King, C.A. ; Feldman,L.. ; Luftman, H.S. ; Green, M.L. ; Bevk, J. ; Weir, B.E.
出版情報: Semiconductor heterostructures for photonic and electronic applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.427-432,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 281
7.

国際会議録
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7. STRAIN-FREE GexSi1-x LAYERS WITH LOW THREADING DISLOCATION DENSITIES GROWN ON Si SUBSTRATES
Fitzgerald, E.A. ; Xie, Y.H. ; Green, M.L. ; Brasen, D. ; Kortan, A.R. ; Mii, Y.J. ; Michel, J. ; Weir, B.E. ; Feldman, L.C. ; Kuo, J.M.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.211-216,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
8.

国際会議録
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8. INVITED: LOW VOLTAGE GATE DIELECTRIC RELIABILITY
Weir, B.E. ; Alam, M.A. ; Silverman, P.J. ; Ma, Y.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.465-474,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2