1.

国際会議録
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1. Boundary artefact reduction using odd tile length and the low pass first convention
Wei,J. ; Pickering,M.R. ; Frater,M.R. ; Arnold,J.F. ; Boman,J.A. ; Zeng,W.
出版情報: Applications of digital image processing XXIV : 31 July - 3 August 2001, San Diego, USA.  pp.282-289,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4472
2.

国際会議録
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2. Economic model for QoS guarantee on the Internet
Zhang,C. ; Wei,J.
出版情報: Data mining and applications : 23-24 October 2001, Wuhan, China.  pp.116-121,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4556
3.

国際会議録
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3. Illumination-invariant video segmentation by hierarchical robust thresholding
Wei,J. ; Drew,M.S. ; Li,Z.-N.
出版情報: Storage and retrieval for image and video databases VI : 28-30 January 1998, San Jose, California.  pp.188-201,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3312
4.

国際会議録
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4. Damage mechanisms for KTiOPO4 crystals under irradiation of a cw argon laser
Mu,X. ; Ding,Y.J. ; Wang,J. ; Liu,Y. ; Wei,J. ; Khurgin,J.B.
出版情報: Laser material crystal growth and nonlinear materials and devices : 27-28 January 1999, San Jose, California.  pp.9-14,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3610
5.

国際会議録
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5. Laser ablation and microstructuring of Si-containing polycarbonates and polyestercarbonates
Wei,J. ; Stebani,J. ; Kunz,T. ; Hahn,C. ; Lippert,T. ; Wokaun,A.J.
出版情報: Computer-controlled microshaping : 16-18 June 1999, Munich, Germany.  pp.146-154,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3822
6.

国際会議録
国際会議録
6. Nanocomposite multilayer optically variable coatings
Lu,J. ; Lai,Z. ; Wei,J. ; Zhang,H. ; Deng,Z. ; Zhang,Q. ; Wang,J.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.835-838,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
7.

国際会議録
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7. Application of sol-gel thin films on the transparent hologram
Deng,Z. ; Ni,X. ; Wang,J. ; Shen,J. ; Wei,J. ; Chen,L.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.757-760,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
8.

国際会議録
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8. Measurements of scintillation characteristics of PbWO4 crystals
Deng,J.K. ; Shang,R.C. ; Ning,C. G. ; Zhu,S. J. ; Pi,H. F. ; Zhu,W. B. ; Xu,W. ; Ren,S. X. ; Chen,G. ; Zhen,L. R. ; Chen,X. H. ; Wei,J. ; Zhen,Y. N.
出版情報: Hard X-ray and gamma-ray detector physics, optics, and applications : 31 July-1 August 1997, San Diego, California.  pp.30-37,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3115
9.

国際会議録
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9. Analysis of trace organic compounds in vehicle emission using REMPI/TOF-MS
Li,Z. ; Wei,J. ; Xia,Z. ; Gu,X. ; Zhang,L. ; Kong,X. ; Zheng,H. ; Zhang,B.
出版情報: Instruments for optics and optoelectronic inspection and control, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.199-202,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4223
10.

国際会議録
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10. Characterization of surface oxidation on rare-earth Er film x-ray laser target
Wu,Y. ; Chen,L. ; Zhang,Z. ; Wei,J. ; Qin,S. ; Tang,W.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.360-363,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086