1.

国際会議録

国際会議録
Wei, L. ; Zheng, Y.
出版情報: Ecosystems' dynamics, agricultural remote sensing and modeling, and site-specific agriculture : 7 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.218-224,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5153
2.

国際会議録

国際会議録
Wei, L. ; Gui, J.Z. ; Ding, H.S. ; Zhang, X.T. ; Li, H.Y. ; Song, L. ; Sun, Z.L. ; Ress, L.V.C.
出版情報: Zeolites and mesoporous materials at the dawn of the 21st century : proceedings of the 13th International Zeolite Conference, Montpellier, France, 8-13 July 2001.  pp.279-279,  2001.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 135
3.

国際会議録

国際会議録
Mernick, M. N. ; Yang, Y. ; Brankov, J. G. ; Wei, L. ; Galatsanos, N. P. ; El-Napa, I.
出版情報: Computational imaging IV : 16-18 January, 2006, San Jose, California, USA.  pp.60650S-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6065
4.

国際会議録

国際会議録
Pryor, R.W. ; Kuo, P.K. ; Wei, L. ; Thomas, R.L. ; Talley, P.L.
出版情報: Diamond, silicon carbide, and related wide bandgap semiconductors : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.273-278,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 162
5.

国際会議録

国際会議録
Tanigawa, S. ; Tabuki, Y. ; Wei, L. ; Hinode, K. ; Kobayashi, N. ; Onail, T. ; Owada, N.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.307-312,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
6.

国際会議録

国際会議録
Kitano, T. ; Wei, L. ; Tabuki, Y. ; Tanigawa, S. ; Mikoshiba, H.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.707-712,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
7.

国際会議録

国際会議録
Uedeno, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tabuki, Y ; Tanigawa, S. ; Sugiura, J. ; Ogasawara, M. ; Tamura, M,
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.1061-1066,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
8.

国際会議録

国際会議録
Kametani, H. ; Akiyama, H. ; Yamaguchi, Y. ; Koumaru, M, ; Wei, L. ; Tabuki, Y. ; Tanigawa, S. ; Uedono, A. ; Watauchi, S. ; Ujihira, Y. ; Suzuki, R. ; Ohgaki, H. ; Mikado, T.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.235-240,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
9.

国際会議録

国際会議録
Uedono, A. ; Ujihira, Y. ; Wei, L. ; Tanigawa, S.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.277-282,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
10.

国際会議録

国際会議録
Nagai, R. ; Takera, E. ; Tabuki, Y. ; Wei, L. ; Tanigawa, S
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.283-288,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262