1.

国際会議録

国際会議録
Ukai,Y. ; Niki,N. ; Satoh,H. ; Watanabe,S. ; Ohmatsu,H. ; Eguchi,K. ; Moriyama,N.
出版情報: Medical imaging 1998, Image processing : 23-26 February 1998, San Diego, California.  Part 2  pp.1482-1489,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3338
2.

国際会議録

国際会議録
Kobayashi,S. ; Uno,T. ; Yamamoto,K. ; Tanaka,S. ; Kotani,T. ; Inoue,S. ; Higurashi,H. ; Watanabe,S. ; Yano,M. ; Ohki,S. ; Tsunakawa,K.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.614-621,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
3.

国際会議録

国際会議録
Miura,H. ; Fujinaga,S. ; Narikiyo,T. ; Ohmori,A. ; Okino,K. ; Watanabe,S.
出版情報: XI International Symposium on Gas Flow and Chemical Lasers and High-Power Laser Conference : 25-30 August 1996, Heriot-Watt University, Edinburgh, UK.  pp.736-739,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3092
4.

国際会議録

国際会議録
Sunta,C.M. ; Ayta,W.E.F.Feria ; Watanabe,S.
出版情報: Proceedings of the 13th International Conference on Defects in Insulating Materials, ICDIM 96, July 15-19, 1996, Wake Forest University, Winston-Salem, NC 27109, USA.  pp.745-748,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 239-241
5.

国際会議録

国際会議録
Takahashi,H. ; Sakaguchi,N. ; Hashimoto,N. ; Watanabe,S.
出版情報: Intergranular and interphase boundaries in materials : iib95 : proceedings of the 7th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials held in Lisboa, Portugal, June 26-29, 1995.  pp.561-564,  1996.  Zurich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 207-209
6.

国際会議録

国際会議録
Yoshimi,M. ; Kawanaka,S. ; Yamada,T. ; Terauchi,M. ; Shino,T. ; Fuse,T. ; Oowaki,Y. ; Watanabe,S.
出版情報: Microelectronic Device Technology : 1-2 October 1997, Austin, Texas.  pp.178-187,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3212
7.

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Tanihata,C. ; Kataoka,J. ; Murakami,T. ; Ota,N. ; Ozawa,H. ; Takahashi,T. ; Tamura,T. ; Uchiyama,Y. ; Watanabe,S. ; Yamaoka,K. ; Yonetoku,D. ; Ezoe,Y. ; Fukazawa,Y. ; Isobe,N. ; Kamae,T. ; Kokubun,M. ; Kotoku,J. ; Kubota,A. ; Makishima,K.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.645-663,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
8.

国際会議録

国際会議録
Uchida,Y. ; Yamada,J. ; Higa,S. ; Kathuria,Y.P. ; Tsuboi,A. ; Watanabe,S. ; Hayashi,N. ; Furuhashi,H.
出版情報: International Conference on Fiber Optics and Photonics: Selected Papers from Photonics India '96.  pp.37-42,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3211
9.

国際会議録

国際会議録
Yoshino,Y. ; Morishige,Y. ; Watanabe,S. ; Kyusho,Y. ; Ueda,A. ; Haneda,T. ; Oomiya,M.
出版情報: 20th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.663-669,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4186
10.

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Wakabayashi,O. ; Sakuma,J. ; Suzuki,T. ; Kubo,H. ; Kitatochi,N. ; Suganuma,T. ; Nakaike,T. ; Kumazaki,T. ; Hotta,K. ; Mizoguchi,H. ; Nakao,K. ; Togashi,T. ; Nabekawa,Y. ; Watanabe,S.
出版情報: Optical Microlithography XIV.  4346  pp.1066-1073,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4346