1.

国際会議録

国際会議録
Boyd,R.D. ; Bliss,E.S. ; Boege,S.J. ; Demaret,R.D. ; Feldman,M. ; Gates,A.J. ; Holdener,F.R. ; Hollis,J. ; Knopp,C.F. ; McCarville,T.J. ; Miller-Kamm,V.J. ; Rivera,W.E. ; Salmon,J.T. ; Severyn,J.R. ; Wang,D.Y. ; Zacharias,R.A.
出版情報: Optical Manufacturing and Testing III.  pp.496-501,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3782
2.

国際会議録

国際会議録
Wang,D.Y. ; English,R.E.,Jr. ; Aikens,D.M.
出版情報: Optical Manufacturing and Testing III.  pp.502-508,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3782