1.
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国際会議録
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Boyd,R.D. ; Bliss,E.S. ; Boege,S.J. ; Demaret,R.D. ; Feldman,M. ; Gates,A.J. ; Holdener,F.R. ; Hollis,J. ; Knopp,C.F. ; McCarville,T.J. ; Miller-Kamm,V.J. ; Rivera,W.E. ; Salmon,J.T. ; Severyn,J.R. ; Wang,D.Y. ; Zacharias,R.A.
出版情報: |
Optical Manufacturing and Testing III. pp.496-501, 1999. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society for Optical Engineering |
シリーズ名: |
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering |
シリーズ巻号: |
3782 |
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2.
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国際会議録
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Wang,D.Y. ; English,R.E.,Jr. ; Aikens,D.M.
出版情報: |
Optical Manufacturing and Testing III. pp.502-508, 1999. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society for Optical Engineering |
シリーズ名: |
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering |
シリーズ巻号: |
3782 |
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