1.

国際会議録
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1. Inspection of silicon wafer backsurfaces
Schmolke, R. ; Passek, F. ; Gerber, H.-A. ; Lambert, U. ; Puppe, G. ; Piontek, H. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.448-457,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
2.

国際会議録
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2. Discrimination of defects on epitaxial silicon wafers
Passek, F. ; Schmolke, R. ; Lambert, U. ; Puppe, G. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.438-447,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
3.

国際会議録
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3. EVALUATION OF Si SURFACE CONDITIONS BY THE USE OF A SURFACE PHOTOVOLTAGE TECHNIQUE
Trauwaert, M.-A. ; Kenis, K. ; Caymax, M. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M. ; Vanhellemont, J. ; Graf, D. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.455-462,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-35
4.

国際会議録
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4. CURRICULUM VITAE OF OXIDE PRECIPITATES: FROM NUCLEATION DURING CRYSTAL GROWTH TO THEIR FINAL DESTINATION IN PROCESSED WAFERS
Kissinger, G. ; Vanhellemont, J. ; Lambert, U. ; Dornberger, E. ; Sorge, R. ; Morgenstern, G. ; Grabolla, T. ; Graef, D. ; von Ammon, W. ; Wagner, P. ; Richter, H.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1095-1112,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)
5.

国際会議録
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5. GATE OXIDE RELATED BULK PROPERTIES OF OXYGEN DOPED FLOATING ZONE AND CZOCHRALSKI SILICON
Ammon, W.v. ; Ehlert, A. ; Lambert, U. ; Graef, D. ; Brohl, M. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.136-147,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
6.

国際会議録
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6. High-temperature annealed silicon wafers
Graef, D. ; Wahlich, R. ; Krottenthaler, P. ; Feijoo, D. ; Lambert, U ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.18-31,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
7.

国際会議録
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7. D-defects and metal-related flow patterns
Kissinger, G. ; Morgenstern, G. ; Richter, H. ; Vanhellemont, J. ; Graef, D. ; Lambert, U. ; von Ammon, W. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.32-39,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
8.

国際会議録
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8. The Impact of Crystal Quality by Delineation of COP and the Impact on the Silicon Wafer Surface
Graef, D. ; Suhren, M. ; Lambert, U. ; Schmolke, R. ; Ehiert, A. ; Ammon, W.v. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.117-131,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
9.

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9. Discrimination of Defects on Silicon Wafers by Their Light Scattering Behaviour
Passek, F. ; Piontek, H. ; Luger, A. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.389-397,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
10.

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10. Head-On Immobilization of DNA Fragments on CVD-Diamond Layers
Wenmackers, S. ; Christiaens, P. ; Deferme, W. ; Daenen, M. ; Haenen, K. ; Nesladek, M. ; Wagner, P. ; Vermeeren, V. ; Michiels, L. ; vandeVen, M. ; Ameloot, M. ; Wouters, J. ; Naelaerts, L. ; Mekhalif, Z.
出版情報: Functionally graded materials VIII : proceedings of the 8th International Symposium on Multifunctional and Functionally Graded Materials (FGM2004) : held in Leuven, Belgium, 11-14 July 2004.  pp.267-272,  2005.  Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 492-493