1.

国際会議録
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1. ENTROPY OF ATOMIC HOPPING IN DIFFUSION AND DEFECT TRANSFORMATIONS
Dobson, T.W. ; Wager, J.F. ; VaN Vechten, J.A.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.279-284,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138
2.

国際会議録
国際会議録
2. Compositionally Inhomogenous Silicon Oxynitride Dielectrics
Wager, J.F. ; Lim, S. ; Ryu, J.H. ; Marlia, J. ; Remley, K. ; Lite, K. ; Plant, T.K. ; Weisshaar, A. ; Casas, L.M.
出版情報: Proceedings of the third Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.187-197,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-16
3.

国際会議録
国際会議録
3. Transparent p-n Heterojunction Thin Film Diodes
Jayaraj, M.K. ; Draeseke, A.D. ; Tate, J. ; Hoffman, R.L. ; Wager, J.F.
出版情報: Transport and microstructural phenomena in oxide electronics : symposium held April 16-20, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 666
4.

国際会議録
国際会議録
4. Transparent Transistor Development
Hong, D. ; Dehuff, N.L. ; Presley, R.E. ; Munsee, C.L. ; Bender, J.P. ; Park, C.-H. ; Wager, J.F. ; Keszler, D.A.
出版情報: Critical interfacial issues in thin-film optoelectronic and energy conversion devices : symposium held December 1-3, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.99-104,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 796
5.

国際会議録
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5. Transparent electronics and prospects for transparent displays
Wager, J.F. ; Valencia, M.M. ; Bender, J.P. ; Norris, B.J. ; Chiang, H.Q. ; Hong, D. ; Norris, L.N. ; Harman, T.V. ; Park, S. ; Anderson, J.T. ; Park, C.-H. ; Keszler, D.A. ; Tate, J. ; Yanagi, H. ; Price, M.F. ; Hoffman, R.L.
出版情報: Cockpit displays X : 22-25 April 2003, Oriando, Florida, USA.  pp.330-339,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5080