1.

国際会議録

国際会議録
Sugioka, K. ; Wada, S. ; Tashiro, H. ; Toyoda, K. ; Sakai, T. ; Takai, H. ; Moriwaki, H. ; Nakamura, A.
出版情報: Laser ablation in materials processing : fundamentals and applications : symposium held December 1-4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.225-230,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 285
2.

国際会議録

国際会議録
Mizuno, M. ; Kawase, K. ; Soma, S. ; Takahashi, H. ; Urata, Y. ; Wada, S. ; Tashiro, H. ; Ito, H.
出版情報: Terahertz spectroscopy and applications II.  pp.125-130,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3828
3.

国際会議録

国際会議録
Iye, M. ; Takami, H. ; Takato, N. ; Oya, S. ; Hoyano, Y. ; Guyon, O. ; Colley, S. A. ; Hottori, M. ; Watanabe, M. ; Eldred, M. ; Saito, Y. ; Saito, N. ; Akagawa, K. ; Wada, S.
出版情報: Adaptive optics and and applications III : 8-9 November 2004, Beijing, China.  pp.1-10,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5639
4.

国際会議録

国際会議録
Sato, A. ; Asai, K. ; Machida, H. ; Urata, Y. ; Wada, S. ; Mizutani, K. ; Itabe, T.
出版情報: Lidar remote sensing for industry and environmental monitoring V : 9-11 November 2004, Honolulu, Hawaii.  pp.16-23,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5653
5.

国際会議録

国際会議録
Urata, Y. ; Machida, H. ; Higuchi, M. ; Kodaira, K. ; Wada, S.
出版情報: Lidar remote sensing for industry and environmental monitoring V : 9-11 November 2004, Honolulu, Hawaii.  pp.327-334,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5653
6.

国際会議録

国際会議録
Hayano, Y. ; Saito, Y. ; Saito, N. ; Akagawa, K. ; Kamata, Y. ; Kanzawa, T. ; Kurakami, T. ; Takato, N. ; Colley, S. ; Eldred, M. ; Kane, T. ; Guyon, O. ; Oya, S. ; Watanabe, M. ; Hattori, M. ; Golota, T. ; Dinkins, M. ; Kobayashi, N. ; Minowa, Y. ; Goto, M. ; Arimoto, N. ; Wada, S. ; Takami, H. ; Iye, M.
出版情報: Advancements in adaptive optics : 21-25 June 2004, Glasgow, Scotland, United Kingdom.  pp.1088-1095,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5490
7.

国際会議録

国際会議録
Urata, Y. ; Wada, S.
出版情報: Lidar remote sensing for environmental monitoring IV : 3-4 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.179-186,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5154
8.

国際会議録

国際会議録
Wada, S. ; Current, M. I. ; Takaoka, G. H. ; Usui, H. ; Yamada, I.
出版情報: Phase formation and modification by beam-solid interactions : symposium held December 2-6, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.621-626,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 235
9.

国際会議録

国際会議録
Yamanoi, M. ; Wada, S. ; Anzai, M. ; Ohmori, H. ; Makinouchi, A.
出版情報: Fourth International Symposium on Laser Precision Microfabrication : 21-24 June, 2003, Munich, Germany.  pp.378-380,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5063
10.

国際会議録

国際会議録
Eto, S. ; Maihara, T. ; Ohta, K. ; Iwamuro, F. ; Kimura, M. ; Mochida, D. ; Wada, S. ; Imai, S. ; Narita, Y. ; Nakajima, Y. ; Karoji, H. ; Noumaru, J. ; Akiyama, M. ; Gillingham, P. ; Smedley, S. ; Tamura, N.
出版情報: Ground-based instrumentation for astronomy : 21-25 June 2004, Glasgow, Scotland, United Kingdom.  pp.1306-1313,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5492