1.

国際会議録
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1. Epitaxial Growth of 4H-SiC on 4o Off-Axis (0001) and (000-1) Substrates by Hot-Wall CVD
Wada, K. ; Kimoto, T. ; Nishikawa, K. ; Matsunami, H.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.219-222,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
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2. Strain Tolerance and Microstructure of Thermal Barrier Coatings Produced by Electron Beam Physical Vapor Deposition Process
Wada, K. ; Ishiwata, Y. ; Yamaguchi, N. ; Matsubara, H.
出版情報: High-temperature oxidation and corrosion 2005 : proceedings of the International Symposium on High-Temperature Oxidation and Corrosion 2005 , Nara, Japan, 30th November - 2nd December 2005.  pp.267-276,  2006.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 522-523
3.

国際会議録
国際会議録
3. Improved Surface Morphology and Background Doping Concentration in 4H-SiC(0001) Epitaxial Growth by Hot-Wall CVD
Wada, K. ; Kimoto, T. ; Nishikawa, K. ; Matsunami, H.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.85-88,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
4.

国際会議録
国際会議録
4. FRACTIONAL CONTRIBUTION IN Si SELF-DIFFUSION: DOPANT CONCENTRATION AND TEMPERATURE DEPENDENCE ON Si SELF-DIFFUSION MECHANISM
Nakabayasbi, Y. ; Osman, H.I. ; Toyonaga, K. ; Yokota, K. ; Matsumoto, S. ; Murota, J. ; Wada, K. ; Abe, T.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.241-247,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
5.

国際会議録
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5. EFFECT OF VACANCY DOUBLE ACCEPTOR LEVEL ON Si SELF DIFFUSION UNDER HEAVY DOPING CONDITION
Osman, H.I. ; Nakabayashi, Y. ; Tomohisa, S. ; Toyonaga, K. ; Matsumoto, S. ; Murota, J. ; Wada, K. ; Abe, T.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.248-253,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
6.

国際会議録
国際会議録
6. Defect Engineering for Silicon Microphotonics
Agarwal, A. ; Foresi, J.S. ; Giovane, L.M. ; Liao, L. ; Michel, J. ; Wada, K. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.215-224,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
7.

国際会議録
国際会議録
7. On-chip interconnection beyond semiconductor roadmap: silicon microphotonics (Invited Paper)
Wada, K. ; Luan, H.-C. ; Lim, D.R.C. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Active and passive optical components for WDM communications II : 29 July-1 August 2002, Boston, USA.  pp.437-443,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4870
8.

国際会議録
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8. PREPARATION OF THE POROUS SUPPORTS WITH SiO2-ZrO2-Na2O COMPOSITION
Tsurita, Y. ; Wada, K.
出版情報: Better ceramics through chemistry IV : symposium held April 16-20, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.361-364,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 180
9.

国際会議録
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9. *PRECIPITATION OF OXYGEN AND THE MECHANISH OF STACKING FAULT FORMATION IN CZOCHRALSKI SILICON BULK CRYSTALS,
Wada, K. ; Inoue, N. ; Osaka, J.
出版情報: Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.125-140,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 14
10.

国際会議録
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10. A HIGH RESOLUTION CATHODOLUMINESCENCE (LC-CL) STUDY ON GaAs-AlGaAs INTERFACE
Wada, K. ; Korez, A. ; Inoue, N.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.437-442,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138