1.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
1. Aerodynamic Design Optimization by the Adjoint Equation Method on Overset Grids
W. Liao ; H. Tsai
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2006
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. Gas Kinetic Scheme for DNS of Decaying Compressible Turbulence
W. Liao ; Y. Peng ; L. Luo
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2009.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2009
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Gas Kinetic Scheme for Continuum and Near-Continuum Hypersonic Flows
W. Liao ; L. Luo ; K. Xu
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2007
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. A Comparative Study of the LBE and GKS Methods for DNS of Decaying Turbulence
W. Liao ; Y. Peng ; L. Luo
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Textbook Efficieny Multigrid Solver for Three-Dimensional Unsteady Compressible Navier-Stokes Equations
B. Diskin ; W. Liao ; L. Luo
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Computational Fluid Dynamics Conference
シリーズ巻号: 2007
6.

国際会議録
国際会議録
6. Study on micro-bubble defect induced by RRC coating
Y. Liu ; W. Liao ; H. Lin ; C. Chen ; C. C. Huang
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
7.

国際会議録
国際会議録
7. A thick CESL stressed ultra-small (Lg=40-nm) SiGe-channel MOSFET fabricated with 193-nm scanner lithography and TEOS hard mask etching
W. Liao ; T. Chen ; H. Lin ; W. Chang ; T. Shih ; H. Tsen ; L. Chung
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
8.

国際会議録
国際会議録
8. A thin FinFET Si-fin body structure fabricated with 193-nm scanner photolithography and composite hard mask etching technique upon bulk-Si substrate
W. Liao ; Y. Liu ; W. Chang ; T. Chen ; T. Shih ; H. Tsen ; L. Chung
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
9.

国際会議録
国際会議録
9. A new phase error compensation method of 3-D shape measurement system using DMD projector
H. Cui ; X. Cheng ; N. Dai ; T. Yuan ; W. Liao
出版情報: Fourth International Symposium on Precision Mechanical Measurements.  2  pp.713041-1-713041-6,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7130
10.

国際会議録
国際会議録
10. MITK-based segmentation of co-registered MRI for subject-related regional anesthesia simulation
C. Teich ; W. Liao ; S. Ullrich ; T. Kuhlen ; A. Ntouba
出版情報: Medical imaging 2008.  2  pp.69182M-1-69182M-10,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6918