1.

国際会議録

国際会議録
W.J. Huang ; W. Chu ; L.H. Hsieh ; J.G. Chen
出版情報: Materials research : eco/enviro[n]mental materials, energy materials, magnesium, aerospace materials and biomaterials for medical application : selected, peer reviewed papers from MRS International Materials Research Conference, June 9-12, 2008, Chongqing, China.  pp.55-60,  2009.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 610-613
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Y. Wu ; W. Chu
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2006
3.

国際会議録

国際会議録
C.M. Nelson ; S.D. Hector ; W. Chu ; P.A. Seese ; M. Thompsonictor Pol
出版情報: Electron-beam, X-ray, EUV, and ion-beam submicrometer lithographies for manufacturing V : 20-21 February 1995, Santa Clara, California.  pp.50-61,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2437
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Y. Zhang ; W. Chu ; X. Lu
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Y. Wu ; W. Chu ; Y. Zhang ; H. Zhang
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
6.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
W. Chu ; E. Mooij ; E. van Kampen ; P. Chu
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Atmospheric Flight Mechanics Conference
シリーズ巻号: 2008
7.

国際会議録

国際会議録
Y. Wang ; X. Zhao ; W. Chu
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
8.

国際会議録

国際会議録
C. P. Ausschnitt ; W. Chu ; D. Kolor ; J. Morillo ; J. L. Morningstar ; W. Muth ; C. Thomison ; R. J. Yerdon ; L. A. Binns ; P. Dasari ; H. Fink ; N. P. Smith ; G. Ananew
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518