1.

国際会議録
国際会議録
1. Deep Levels and Compensation in High Purity Semi-Insulating 4H-SiC
W. C. Mitchel ; W. D. Mitchell ; H. E. Smith ; W. E. Carlos ; E. R. Glaser
出版情報: Silicon carbide 2006--materials, processing and devices : symposium held April 18-20, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.213-218,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 911
2.

国際会議録
国際会議録
2. Interface roughness estimate from carrier transport in InAs/GaSb superlattices
F. Szmulowicz ; S. Elhamri ; H. J. Haugan ; G. J. Brown ; W. C. Mitchel
出版情報: Quantum sensing and nanophotonic devices V : 20-23 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.69000P-1-69000P-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6900