1.

国際会議録
国際会議録
1. New Developments in III-Nitride Material and Device Applications
Razeghi,M. ; Saxler,A. ; Kung,P. ; Walker,D. ; Zhang,X. ; Kim,K.S. ; Vydyanath,H.R. ; Solomon,J. ; Ahoujja,M. ; Mitchel,W.C.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 1  pp.277-284,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
2.

国際会議録
国際会議録
2. Optimization of the MBE growth of Hg1-x Cdx Te for advanced infrared applications
Vydyanath,H.R. ; Wijewarnasuriya,P.S. ; Sivananthan,S. ; Nathan,V.
出版情報: Infrared Detectors and Focal Plane Arrays V : 14-17 April 1998, Orlando, Florida.  pp.572-576,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3379
3.

国際会議録
国際会議録
3. HgCdTe photodiodes with state-of-the-art performance in the near-infrared spectral region
Vydyanath,H.R. ; Tobin,S.P. ; Norton,P.W. ; Odette,P. ; Nathan,V.
出版情報: Photodetectors : materials and devices VI : 22-24 January 2001, San Jose, USA.  pp.316-334,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4288
4.

国際会議録
国際会議録
4. GaN doped with sulphur
Saxier,A. ; Kung,P. ; Zhang,X. ; Walker,D. ; Soiomon,J. ; Ahoujja,M. ; Mitchel,W.C. ; Vydyanath,H.R. ; Razeghi,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.1161-1166,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
5.

国際会議録
国際会議録
5. Materials and process issues in the fabrication of high-performance HgCdTe infrared detectors
Vydyanath,H.R. ; Nathan,V. ; Becker,L.S. ; Chambers,G.N.
出版情報: Photodetectors : materials and devices IV : 27-29 January 1999, San Jose, California.  pp.81-87,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3629