1.

国際会議録
国際会議録
1. Extraction of MESFET Small Signal Equivalent Circuit Parameters
Pandey,A.K. ; Thakur,J.P. ; Shukla,S.R. ; Vyas,H.P.
出版情報: Proceedings of the Tenth International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices (December 14-18, 1999).  Part1  pp.625-628,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3975
2.

国際会議録
国際会議録
2. Dry Etching of Through Substrate Via Holes for GaAs MMICs
Agarawal,Vanita R. ; Rawal,D.S. ; Sharma,P.N. ; Naik,A.A. ; Sharma,H.S. ; Sehgal,B.K. ; Gulati,R. ; Vyas,H.P.
出版情報: Proceedings of the Tenth International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices (December 14-18, 1999).  Part1  pp.637-640,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3975
3.

国際会議録
国際会議録
3. Modelling of MESFET by Two Region Model
Pandey,A.K. ; Shukla,S.R. ; Vyas,H.P.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 2  pp.929-932,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
4.

国際会議録
国際会議録
4. Characterisation of Ion Implanted Layers in GaAs and Influence of Various Parameters on Device Performance
Bhattacharya,B. ; Sai Saravanan,G. ; Khatri,R.K. ; Naik,A.A. ; Rawal,D.S. ; Sharma,H.S. ; Sehgal,B.K. ; Gulati,R. ; Vyas,H.P. ; Kumar,K.C. ; Rao,A.V.S.K. ; Govindacharyulu,P.A.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 2  pp.1310-1313,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316