1.

国際会議録
国際会議録
1. Large area detectors and new sensor technologies at Fairchild Imaging [6276-05]
Vu, P. ; Liu, X. ; Laxson, D.
出版情報: High energy, optical, and infrared detectors for astronomy II : 24-27 May, 2006, Orlando, Florida, USA.  pp.627605-627605,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6276
2.

国際会議録
国際会議録
2. CCD/CMOS hybrid EPA for low light level imaging [5881-35]
Liu, X. ; Fowler, B. A. ; Onishi, S. K. ; Vu, P. ; Wen, D. D. ; Do, H. ; Horn, S.
出版情報: Infrared and photoelectronic imagers and detector devices : 31 July - 1 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58810C-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5881
3.

国際会議録
国際会議録
3. InSb Detectors and Focal Plane Arrays on GaAs, Si, and Al2O3 Substrates
Michel, E. ; Mohseni, H. ; Wojkowski, J. ; Sandven, J. ; Xu, J. ; Razeghi, M. ; Vu, P. ; Bredthauer, R. ; Mitchel, W. ; Ahoujja, M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors - materials, processing, and devices : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A.  pp.79-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 450
4.

国際会議録
国際会議録
4. Wafer-scale scientific CCDS at Fairchild Imaging
Vu, P. ; Onishi, S. ; Potter, R.
出版情報: Optical and infrared detectors for astronomy : 21-22 June 2004, Glasgow, Scotland, United Kingdom.  pp.250-257,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5499
5.

国際会議録
国際会議録
5. Advances in CCD technology for x-ray diffraction applications
Thorson, T. A. ; Durst, R. D. ; Frankel, D. ; Bordwell, R. L. ; Camara, J. R. ; Leon-Guerrero, E. ; Onishi, S. K. ; Pang, F. ; Vu, P. ; Westbrook, E. M.
出版情報: Hard X-ray and gamma-ray detector physics V : 4-5 August, 2003, San Diego, California.  pp.163-171,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5198
6.

国際会議録
国際会議録
6. Design and characterization of a large-area lens-coupled CCD detector for macromolecular crystallography
Westbrook, E.M. ; Morse, J. ; Fischer, R.E. ; McGuigan, W.M. ; Onishi, S.K. ; Vu, P. ; Naday, I. ; Bauer, C. ; Phillips, J. ; Thorson, T.A. ; Durst, R.D.
出版情報: X-ray and gamma-ray detectors and applications IV : 7-9 July Seattle, Washington, USA.  pp.375-385,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4784
7.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
7. Effect of Fill Pressure on the Precursor Shock in the Channel Effect
Tanguay, V. ; Vu, P. ; Oliver, P. ; Timofeev, E. ; Higgins, A.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 43rd
8.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
8. Investigation of the Effects of Stiffness on Control Power via a Morphing Wing Technology
Vu, P. ; Kelkar, A. ; Whitmer, C.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference
シリーズ巻号: 46th
9.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
9. Modeling and Control of a Morphing Airfoil.
Whitmer, C. E. ; Kelkar, A. G. ; Vu, P. ; Chavez, F. R.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2003.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : IMECE
シリーズ巻号: 2003