1.

国際会議録
国際会議録
1. THE MEYER-NELDEL RELATION AND ANALYSIS OF THE FIELD-EFFECT IN AMORPHOUS SILICON
Schropp, Ruud E.I. ; Snijder, Jan ; Verwey, Jan F
出版情報: Materials issues in amorphous-semiconductor technology : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.173-178,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 70
2.

国際会議録
国際会議録
2. CAPACITANCE-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF METALLIC GATE/OXIDE/a-Si:H MOS STRUCTURES
Schropp, Ruud E.I. ; Snijder, Jan ; Verwey, Jan F
出版情報: Materials issues in amorphous-semiconductor technology : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.167-172,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 70