1.

国際会議録
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1. Noninvasive electrical characterization of semisonductor and interface
Kasouit, S. ; Drevillon, B. ; Conde, J. ; Kim, H.J. ; Kleider, J.P. ; Vanderhaghen, R.
出版情報: Photodetector materials and devices VII : 21-23 January 2002, San Jose, USA.  pp.213-220,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4650
2.

国際会議録
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2. THE EXTENDED STATE MOBILITY IN AMORPHOUS SILICON ALLOYS
Fauchet, P.M. ; Vanderhaghen, R. ; Mourchid, A. ; Hulin, D.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1992.  pp.711-716,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 258
3.

国際会議録
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3. Analysis of the Conduction Properties of a-Si:H n+-i-n+ Structures via Accurate Computer Modeling
Chatterjee, P. ; Vanderhaghen, R. ; Equer, B.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1996 : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.233-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 420
4.

国際会議録
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4. Low-temperature plasma-deposited microcrystalline silicon thin films: an emerging material for stable thin film transistors
Cabarrocas, P.R. ; Kasouit, S. ; Kalache, B. ; Vanderhaghen, R. ; Bonnassieux, Y. ; Elyaakoubi, M. ; French, I.D.
出版情報: Poly-Silicon Thin Film Transistor Technology and Applications in Displays and Other Novel Technology Areas.  pp.84-94,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5004
5.

国際会議録
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5. Noninvasive electrical characterization of semiconductor at bulk and interfaces (Invited Paper)
Vanderhaghen, R. ; Kasouit, S. ; Drevillon, B. ; Chu, V. ; Conde, J. ; Kim, H. ; Kleider, J.P.
出版情報: Quantum Sensing: Evolution and Revolution from Past to Future.  pp.261-278,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4999