1.

国際会議録
国際会議録
1. Estimation of anisotropic blur for the restoration of confocal images
Rooms, F. ; Philips, W. ; Van Oostveldt, P.
出版情報: Wavelet Applications in Industrial Processing.  pp.9-17,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5266
2.

国際会議録
国際会議録
2. Compact laser scanning confocal microscope [5858-08]
Beghuin, D. ; VandeVen, M. ; Ameloot, M. ; Claessens, D. ; Van Oostveldt, P.
出版情報: Nano- and Micro-Metrology.  pp.585808-585808,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5858